-
Электронная почта
huogang010@163.com
-
Телефон
13911564578
-
Адрес
Вилла Цзишэн, район Чанпин, Пекин 19 - 11
Beijing Zhongxian Hengye Instrument Co., Ltd
huogang010@163.com
13911564578
Вилла Цзишэн, район Чанпин, Пекин 19 - 11
От микрочипов для смартфонов до силовых модулей для новых энергетических транспортных средств качество каждого основного компонента напрямую влияет на конкурентоспособность продукта на рынке. С развитием компонентов в направлении миниатюризации и высокой плотности традиционное контрольно - измерительное оборудование трудно соответствовать требованиям точности « микрон». Появление полностью автоматической 4K - микроскопической системы ZEISS Smartzoom 100 похоже на оснащение электронной промышленности парой « глаз точного понимания», с помощью интеллектуальных технологий для решения проблем обнаружения, стало ключевым инструментом контроля качества.

Смартзум 100Клиент демонстрирует место
Основная проблема электронного производства заключается в том, что небольшие дефекты могут вызвать ряд цепных реакций. В качестве примера возьмем пластину PCB (печатную плату), диаметр точки сварки которой обычно составляет менее 1 мм, в случае ложной сварки, соединения моста или трещины и других условий, что может привести к короткому замыканию оборудования, нестабильной производительности. Искусственное обнаружение зависит от опыта оператора, не только неэффективно, но и легко может вызвать утечку из - за визуальной усталости; Обычный микроскоп требует частого ручного регулирования параметров, что затрудняет стандартизацию массового обнаружения. В то время как 8,5 - мегапиксельный 4K - датчик ZEISS Smartzoom 100 может выводить изображения сверхвысокой четкости с разрешением 3840×2160, даже крошечные царапины 0,01 мм могут быть четко захвачены, что в корне устраняет « визуальное слепое пятно».
В сегменте обнаружения упаковки чипов полностью автоматизированы функции ZEISS Smartzoom 100АПреимущество. Встроенная в него высокоточная система привода двигателя обеспечивает автоматическую фокусировку миллисекундного уровня, в сочетании с 25 - кратным оптическим зумом и 370 мм сверхдлинным рабочим расстоянием, что позволяет легко выполнять бесшовные наблюдения переключения от общего внешнего вида чипа к деталям выводов. Для серийных чипов система поддерживает пользовательский процесс обнаружения, автоматически завершает измерение размеров, распознавание дефектов и генерирует стандартизированные отчеты - будь то отклонение расстояния между выводами или крошечные пузырьки упакованного материала, которые могут быть точно идентифицированы, эффективность обнаружения более чем в три раза выше, чем традиционный способ, что значительно снижает затраты на рабочую силу и частоту ошибок.

Смартзум 100Операционная площадка
Стоит отметить, что мультимодальная система освещения ZEISS Smartzoom 100 предлагает гибкие решения для обнаружения сложных электронных компонентов. Для компонентов из разных материалов можно свободно переключать яркое поле, темное поле и другие режимы освещения: при обнаружении прозрачного фоторезиста, освещение через темное поле может четко отображать шероховатость поверхности; При наблюдении следов окисления металлических выводов освещение открытого поля может подчеркнуть различия в цвете. Этот адаптивный способ освещения позволяет каждой сцене обнаружения получить оптимальную контрастность, чтобы убедиться, что дефекты не скрываются.
В области новой энергетической электроники ZEISS Smartzoom 100 также демонстрирует высокую адаптивность. В качестве примера возьмем испытание сварки полярного уха силовой батареи, которая должна учитывать как прочность сварки, так и целостность внешнего вида, традиционное оборудование трудно сбалансировать точность и эффективность обнаружения. Система через функцию анализа изображений, управляемую AI, может автоматически рассчитать площадь и угол сварной зоны, определить, существуют ли проблемы с ложной сваркой и пересваркой, а также поддерживать связь с системой управления производством (MES) в режиме реального времени для достижения автоматического отслеживания данных обнаружения, чтобы помочь предприятиям построить систему контроля качества всего процесса.
Программная платформа ZEISS ZEN Core не только поддерживает статистический анализ дефектных данных, но и постоянно оптимизирует модели обнаружения с помощью алгоритмов машинного обучения, чтобы адаптироваться к постоянно обновляемым типам электронных компонентов. Кроме того, компактный интегрированный дизайн позволяет развертывать устройства непосредственно на производственных линиях, не занимая много дополнительного пространства, для удовлетворения потребностей сценариев эффективного производства на электронных заводах.
От микрочипов до больших силовых модулей, ZEISS Smartzoom 100 обеспечивает контроль качества в электронной промышленности с 4K - изображениями сверхвысокой четкости, полностью автоматизированными интеллектуальными операциями и мощными возможностями анализа данныхРешения.