Всегда ли при использовании сканирующих зеркал вы сталкиваетесь со следующими проблемами:

Переключение проб между различными устройствами всегда требует много времени для переориентации интересующего района

Всегда огорчен получением больших площадей изображений с высоким разрешением, необходимо часто переключать параметры изображения и настраивать рассеянную фокусировку

Получение изображений и беспокойство по поводу количественного анализа изображений

В ответ на вышеуказанные проблемы и потребности ZEISS полностью вооружает сканирующие зеркала, в частности, запускает интеллектуальные зеркальные решения для решения всех вышеупомянутых проблем и обеспечения бесперебойной и эффективной работы по ежедневному обнаружению и анализу.

корреляционный позиционный анализ

Модуль ZAIS Connect позволяет легко соединить оптический микроскоп с сканирующим зеркалом, быстро перемещать образцы между различными устройствами и унифицировать управление данными и информацией о связанных устройствах.

Ассоциированное позиционирование: автоматическое реляционное позиционирование образца между различными микроскопическими устройствами с помощью связанного стенда образцов, что значительно сокращает время работы

• суперпозиция данных: свободная суперпозиция информации от мобильного телефона, оптического микроскопа, сканирующего зеркала и соответствующей спектральной информации

• Унифицированное управление: управление данными с различных связанных устройств, вывод различной информации для наложения изображений и видео

Связанный микроанализ плат PCB (оптическое зеркало, зеркало, спектральная информация), слева: макроскопическое изображение; Справа: Местоположение интереса локально увеличено

Автоматическое изображение

CEISS SmartSEM Touch Настройка программного обеспечения, полный баланс параметров настройки, изображения, автоматизированные головоломки, просмотр изображений, реализация интеллектуальных и эффективных сканирующих зеркальных изображений

Мастер - процесс, простой интерфейс, простая работа

• Автофокусировка в соответствии с интеллектуальным согласованием параметров изображения образца

Простая операция позволяет делать снимки и сшивать изображения с высоким потоком

Простой интерфейс SmartSEM Touch

Количественный анализ

Модуль ZEISS ZEN реализует весь процесс количественного анализа от получения зеркальных изображений, обработки изображений, разделения изображений, автоматического измерения до генерации отчетов

Один клик для получения сканирующих зеркальных изображений, мастер аналитического рабочего процесса, неопытные новички также могут легко освоить

Модуль ZEN Intellesis, основанный на машинном обучении, легко удовлетворяет потребности в обработке изображений, которые трудно достичь традиционными пороговыми методами.

✓ Богатые измерительные функции, такие как статистический анализ частиц, пористость, процент содержания, измерение толщины слоя, рейтинг зернистости и т.д.

Интерфейс количественного анализа - двоичное разделение

Анализ размеров пористости и содержания металлической сварки

Удовлетворение множественных потребностей в измерениях - расширенные измерения

Содержание в процентах

Рейтинг зернистости

гранулометрический анализ

Анализ пористости

Решения для интеллектуальных сканирующих зеркал ZEISSMIK удовлетворяют вашим разнообразным потребностям, и вы можете сосредоточиться на микроскопии ZEISSMIK Public (ZEISSMIK), чтобы узнать о решениях для интеллектуальных сканирующих зеркал ZEISS в четырех основных областях науки о жизни, материаловедения, металлургии и электроники.