Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Changsha Laisai New Energy Technology Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Статья

Changsha Laisai New Energy Technology Co., Ltd

  • Электронная почта

    13973185673@139.com

  • Телефон

    19813289696

  • Адрес

    Чанша, провинция Хунань

Свяжитесь сейчас
Режим калибровки и отладки
Дата:2025-04-29Читать:2
Стабильный солнечный фотосимулятор, как основное оборудование для тестирования производительности фотоэлектрических устройств, точность отладки и калибровки напрямую влияет на надежность результатов испытаний. В этой статье будет описан стандартизированный рабочий процесс стабильного симулятора солнечного света с точки зрения состава системы, ключевых технических показателей, процесса отладки и методов калибровки.
Основные компоненты оборудования и технические показатели
(i) Состав системы
Стабильный симулятор солнечного света состоит в основном из системы источника света, оптического интегратора, модуля фильтра, регулятора облучения, системы управления температурой и калибровочного блока. В том числе:
- Источники света: использование высоковольтных ксеноновых ламп или светодиодных массивов, охватывающих диапазоны от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного диапазона (300 - 2500 нм)
Оптический интегратор: равномерное распределение силы света через призму
- Фильтр AM1.5: спектр Солнца для точного моделирования массы атмосферы 1.5
Модуль регулирования облучения: регулирование облучения с помощью фильтра нейтральной плотности или модуляции PWM
- Система контроля температуры: поддержание температуры в испытательной полости в диапазоне 25±2°С
(ii) Ключевые показатели эффективности
Спектральное соответствие: отклонение от стандартного солнечного спектра (ASTM E927) на ±25%
2. Равномерность облучения: разница в облучении в пределах зоны эффективного испытания составляет ±2%
3. Устойчивость к облучению: колебания в течение 1 часа ±1%
Пространственная однородность: тестовая зона 100mm соответствует стандарту IEC 60904 - 9
II. Отладка процесса калибровки
(i) Проверка начального состояния
1. Механическая калибровка:
- Настройка фокусировки источника света, чтобы центр пятна был перпендикулярен плоскости теста
- Проверьте расположение призм интегратора, чтобы убедиться, что нет отклонения или затенения.
2. Электрический контроль:
- Проверка пускового напряжения ксеноновой лампы (обычно 20 - 30 кВ)
- Проверка согласованности тока привода светодиодной решетки (отклонение < 3%)
(ii) Калибровка спектрального соответствия
1. Базовый спектральный сбор:
- Сбор исходного спектра с помощью калибровочного спектрометра (например, AvaSpec - ULS2048)
- Сравнение стандартного солнечного спектра (AM1.5G, 1000W / m²) для построения кривой отклонения
2. Оптимизация системы фильтрации:
- Использование комбинации фильтров UG5 / GG495 для коррекции ультрафиолетового диапазона
- Настройка параметров инфракрасного фильтра с отсечкой для управления долей частот выше 850 нм
3. Итеративная проверка:
- Достижение спектрального взвешенного соответствия A (дельта < 15%) путем многократной регулировки угла фильтра
(iii) Регулирование однородности облучения
1.Тестирование сетки:
- Разделите тестовую плоскость на сетку 10×10, измеряемую по точкам с использованием эталонных батарей калибровочного класса (например, PV Reference Cell, Class AA)
- Запись максимального значения (Vmax), минимального значения (Vmin) и стандартного отклонения (сигма)
2. Оптимизация однородности:
- Настройка высоты интегратора, изменение угла рассеяния света
- Тонкая настройка угла вторичного зеркала для компенсации затухания края
- Типичные параметры регулировки: интегратор находится на расстоянии 150 - 200 мм от тестовой поверхности, угол расхода ±1,5 °
3. Критерии сертификации:
- Коэффициент однородности U = (1 - сигма / Vavg) x 100% > 98%
iv) Количественная калибровка облучения
1. Справочный метод батарей:
- Выберите эталонный аккумулятор калиброванного уровня, прослеживаемый NIST (например, Fraunhofer ISE # 535)
- Измерение тока короткого замыкания в стандартных условиях испытаний (STC, 25°C / 1000W / m²)
- Расчет фактического облучения E = Isc / K на основе эталонной чувствительности батареи K (мкА / (W / m²))
2. Проверка дозиметром:
- Проверка аккумуляции облучения с использованием химических дозиметров (например, бумаги Робертсона - Бергера)
- Сравнить теоретическую экспозицию с измеренными значениями, погрешность должна быть < ±3%
(v) Калибровка температурного контроля
1. Контроль температуры полости:
- Настройка PID - параметров системы контроля температуры (типичное значение: P = 50%, I = 0,5, D = 0.1)
- Контроль температуры полости с помощью датчика PT100, колебания должны быть < ±0,5 °C / мин
2. Контроль температуры проб:
- Установка термопар на испытательной плоскости для мониторинга температурного поля поверхности образца в режиме реального времени
- Включение системы активного охлаждения (водяного охлаждения / Peltier) для поддержания температуры образца 25 ± 1°С
III. Особые элементы отладки сцены
(i) Режим импульсного тестирования
1. Регулирование частоты вспышки ксеноновых ламп (типично 1 - 20 Гц)
Синхронный триггерный осциллограф собирает переходную реакцию батареи
Проверка ширины импульса и времени подъема (tr < 1ms)
(ii) Многоспектральное моделирование
Переключение настраиваемых наборов фильтров (например, 400 - 1100нм сегментов)
2. Калибровка спектрального распределения мощности в спектральном диапазоне (классификация CIE S0.5)
3. Нечувствительность к углу проверки (изменение угла падения ±60°, выходное колебание < 5%)
IV. Система обеспечения качества
1. Периодическое обслуживание:
Замена ксеноновых ламп каждые 200 часов
- Ежемесячная чистка призмы интегратора (вытирание спиртом)
- Ежегодная отправка эталонных батарей (лаборатория NPL / JCRPR)
2. Анализ неопределенности:
- Расширенная неопределенность U 2,5% (k = 2)
- Основные источники вклада: стабильность эталонных батарей (35%), спектральное рассогласование (25%), измерение однородности (20%)
3. Необычная обработка:
- Проверка расхода охлаждающей воды при мутации облучения (> 3L / min)
- Очистка поверхности фильтра при спектральном смещении (без остатков волокон)