FМикроскопическийспектр с угловым разрешениемСпектрИ

Спектр с угловым разрешением, как следует из названия, является технологией, которая может одновременно обнаруживать световой спектр сигнала и угол выхода, который сопровождается микрополостной фототехникой, искусственнымМетаматериалыНовые технологии спектроскопического обнаружения, появившиеся в результате разработки и применения новых микронанофотонных материалов, таких как и суперповерхность. Мы знаем, что, когда свет распространяется в материале, его дисперсионная связь изменяется из - за взаимодействия света с материей, и традиционные оптические средства обнаружения могут обнаруживать только энергию (частоту) света, а импульс света (импульс света)к) Информация недоступна. Исследование показало, что импульс фотона тесно связан с углом выхода фотона с поверхности материала (тета), поэтому, обнаруживая свет, испускаемый под разными углами с поверхности материала, можно изобразить оптические микрополости,МетаматериалыЭнергия фотонов в изоматериалах и устройствах(Е) -Импульс (к) Отношения, то есть дисперсионные отношения, таким образом, углубленное изучение их оптических свойств.

Принцип обнаружения микроспектра с угловым разрешением основан на оптическом преобразовании Фурье,Через листья ФуриМетод визуализации, одноразовое изображение света под разными углами на детекторе. Его оптический принцип показан на рисунке ниже. Свет, испускаемый под разными углами с поверхности образца, сливается с помощью микрообъектива в следующую плоскость Фурье, и можно предположить, что свет, испускаемый под разными углами, будет собираться в разных местах на плоскости Фурье.С точки зренияПреобразование в пространственное положение. С помощью антихроматической системы визуализации,Переместить листья ФуриИзображение на входной щели спектрометра, через энергетическое разрешение спектрометра,CCDНа нем показана дисперсия пространственного положения (т. е. угла) и длины волны (т. е. частоты).

рисунок1. Схема принципов изображения с угловым разрешением

Примеры применения:

1. анализ режимов фотонных полостей с кристаллической связью

Опираясь на спектроскопию флуоресценции с угловым разрешением, симметрия фотонного кристаллического режима характеризуется экспериментальным измерением распределения дальней угловой флуоресценции квантовых точек, встроенных в фотонный кристалл. Экспериментальные данные хорошо согласуются с предсказаниями интерферометрии Янга и численного моделирования. Кроме того, фотоны с векторными свойствамиМодульное представлениеСложная чётность различных поляризаций, которая не имеет соответствующих физических характеристик в рамках квантовой механики.（Ссылки:F.Интонтии др.,PRL106,143901(2011))

рисунок2. Фотонные микроэлементыМолекулы полостиСхема режима запуска двух режимов связи. Алмаз обозначает распределение электрического поля в обоих режимах и подчеркивает положительную (красную) и отрицательную (голубую) амплитуду цветовыми маркерами. Красная (синяя) пунктирная линия обозначает длину фазы (фаза) светового пути в изображении дальней эмиссии.

рисунок3. одинД2полостьа)В ортогональном поляризованном каналеПЛСпектр;b) СЭМИзображения;с)- Да.е)Электрическое полеFDTD NFРисунок;f)- Да.h)экспериментПЛИнтенсивность на дальнем полекПространственное распределение;(и)- Да.k) FDTDИнтенсивность на дальнем полекПространственное распределение.

2. Сверхповерхность и 2Материалы измеренийСвязь

С помощью микроспектроскопии отражения с угловым разрешением изучались и монослоиМоС2Интегрированное сильное возбуждение в массиве серебряных нанодисков子-Плазменное взаимодействие. Наблюдение77 КЭксимоны времени-и т. д.связь с ионизированными элементамиИнтенсивность до58 меВОни могут существовать и при комнатной температуре. Сильная связь включает в себя три типа резонансов, в том числе:МоС2Экитоны,Индивидуальное сереброРезонанс плазмы на локальной поверхности (ЛСПРРезонанс плазменной решетки нанодисковых массивов. Эксперименты показали, что экситоны можно эффективно контролировать, регулируя геометрию плазменной решетки.-плазменная связьИнтенсивность, полярный состав и дисперсия делают систему перспективной для новых двухмерных приборов плазменной поляризации.(Ссылки:В.Дж.Люи др.,Нано Lett.16,2,1262(2016))

рисунок4. ОднослойныйМоС2вверхТипичное серебронано - дисковыйСЕМИзображения

рисунок5. Диаметр диска100 нмдо170 нм& Период для460 нм的Си/Сио2Пять изображенных плазменных решёток на фундаменте имеют угловое разрешение спектра дифференциального отражения. Белая пунктирная линия представляет собой длину волны в режиме плазменного резонанса на локальной поверхности, а красная точка соответствует положению наклона, полученному линейным разрезом, который различает альбедо под постоянным углом. Голубая прямаяРезультаты моделирования связанных генераторов

3. Спектр с угловым разрешением в пражской плоской микрополостиVCSELПрименение в устройствах

С помощью спектра отражения белого света с угловым разрешением изучались оптические микрополости пражской плоскости.ДБРОптический режим (а-сИсследование перепада себестоимости электронных дырок в условиях высокого возбуждения с помощью спектроскопии флуоресцентной динамики с угловым разрешениемДисперсионная эволюция резонансных режимов оптических систем (dВ)). На основе технологической зрелости.III- Да.ВМикроскопические полости семейства полупроводниковых пластин, в сочетании с квантом, регулируют плотность мощности Пугуана насосаЛовушкаСильная нелинейная реакция, вызванная носителями среднего света, может регулировать частоту, импульс, время света и ширину импульса излучающего лазера.(Ссылки:В.Сии др.,Оптика,3,12(2016))

рисунок6. Стандартные неручные красителиШирокополосная стабилизация и время в водном растворе низкой и высокой вязкостиРазличить всевекторный спектр Стокса

4. Применение спектра с угловым разрешением в растровой структуре

Мы изучили спектр отражения белого света с угловым разрешением.Оксид цинка на подложке решетки на основе кремния(аэкситон)дисперсия поляризованного типаи динамическое пространство (b)Продолжительность жизни в различных энергетических состояниях (сВ)). Из - за модуляции растровой подложки первоначальный непрерывный оптический режим распадается, образуя сходствоБриллюэнский район.Может иметь структуру. После увеличения плотности частиц,поляризованныйКонденсация происходит не в нуле импульсного пространства, а вГраницы БриллюэнаФормально. Это связано с тем, что микроскопические самособранные образцы вводят структурное потенциальное поле, которое достигается путем регулирования пространственного распределения частиц и срока их службы в энергетическом состоянии.Нулевой импульс.Энергетическая конденсация.(Ссылки:Л.Чжани др.,PNAs, 112, 13 (2015))

рисунок7. углублять одномерных микрон - стержней оксида цинка на подложке решетки на основе кремния