Промышленные микроскопы высокой четкости в основном основаны на характеристиках преломления и отражения света. Его ядром является набор высокоточных линзовых систем, включая комбинированное использование объективов и окуляров. Когда свет попадает на наблюдаемый объект, изображение впервые усиливается объективом, а затем дополнительно усиливается окуляром, что обеспечивает четкое представление крошечных деталей.

Современное оборудование часто оснащено датчиками CCD или CMOS, которые преобразуют оптические сигналы в электрические сигналы для цифровой обработки, используют высокоэнергетический электронный луч, излучаемый электронной пушкой, для проникновения на поверхность образца, компенсируют аберрацию посредством динамической регулировки интенсивности электромагнитного поля, в сочетании с электрической станцией для завершения многозонального автоматического сканирования и трехмерной реконструкции, подходит для глубокого анализа сложных материалов.

Шаги измерения с помощью промышленного микроскопа высокой четкости:

1. Подготовительная работа

- Проверка и очистка оборудования: убедитесь, что компоненты микроскопа в норме, оптические системы (объективы, окуляры и т.д.) свободны от пыли или пятен; Регулируйте систему освещения, чтобы обеспечить равномерное и достаточное освещение. Образцы подготавливаются в соответствии с потребностями наблюдения и закрепляются на несущем столе.

- Установка вспомогательных устройств для подключения: при необходимости установите камеры, источники света и другие компоненты и подключите соответствующее оборудование, например, подключите микроскоп к компьютеру для сбора и анализа изображений.

2. Размещение образцов: образец помещается на грузовой стол, а образец перемещается в центр обзора с помощью мобильного устройства грузового стола. Обратите внимание, что стекло спереди вверх, закреплено нажимным зажимом, и убедитесь, что область наблюдения направлена в центр сквозного отверстия. При перемещении несущей станции следует обратить внимание на то, что стекло движется в противоположном направлении, чем объект движется в окуляре.

3. Грубая фокусировка: Поверните ручку грубой фокусировки, чтобы цилиндр или несущий стол двигались вверх и вниз, чтобы примерно найти четкое положение изображения образца.

4. Калибровка (если речь идет о функции измерения)

- Подготовка к уборке: чистка объектива и несущего стола, чтобы избежать воздействия примесей на калибровку.

- Размещение стандартных деталей: размещение стандартных измерительных блоков в центре несущей станции, настройка микроскопа до четкого изображения.

- Калибровка программного обеспечения: выберите функцию « Калибровка» в программном обеспечении, щелкните по подсказке последовательно по линии шкалы на обоих концах блока, и система автоматически регистрирует отклонение фактического размера от измеренного значения и исправляет его. При замене различных коэффициентов умножения объектива необходимо отдельно откалибровать, чтобы обеспечить одинаковую точность при каждом кратном.

5. Наблюдения и измерения

- Первый взгляд на малократное зеркало: вращающийся преобразователь позволяет низкократному объективу (например, 4× или 10×) вертикально опускаться вниз, медленно регулируя грубую квазифокусную спираль, чтобы поднять несущую платформу на расстояние около 0,5 см от стекла объектива, сначала для предварительного наблюдения и позиционирования.

- Автоматическое измерение (метод высокой точности): захват полного изображения круглого контура детали с помощью камеры высокой четкости микроскопа, после передачи на компьютер, программное обеспечение автоматически распознает границы контура с помощью « алгоритма обнаружения границ» (например, алгоритма Канни, алгоритма Собеля), устраняя помехи контура от шума изображения (например, отражения, примеси); Затем программное обеспечение автоматически извлекает сотни или даже тысячи точек на профиле для вычисления таких параметров, как размер.