Импортная промышленная микроскопия - это точный инструмент для наблюдения и анализа микрообъектов или структур, который работает на основе оптических или электронно - оптических принципов, усиливая микроскопические миры, которые не видны или трудно наблюдать напрямую, и представляя четкие изображения.

(i) Оптический импортный промышленный микроскоп

1. Системы освещения: обычно используется режим освещения Koller. Свет, излучаемый источником света, равномерно освещает наблюдаемый объект через конденсатор. Роль концентратора заключается в том, чтобы регулировать угол и интенсивность света, позволяя свету освещать объект под правильным углом, обеспечивая равномерное и достаточное освещение всех частей объекта.

Объективная визуализация: объектив является одним из ключевых компонентов оптического микроскопа. Он приближается к наблюдаемому объекту с более коротким фокусным расстоянием и более высоким увеличением. Объект впервые увеличивает объект, образуя перевернутое изображение. Это изображение находится внутри фокуса окуляра. Качество и производительность объектива имеют решающее значение для четкости и разрешения изображения. Например, объективы с высоким разрешением могут различать более мелкие детали объекта.

окулярное наблюдение: Роль окуляра заключается в дальнейшем увеличении изображения, создаваемого объективом. Внутри окуляра есть одна или несколько комбинаций линз, которые увеличивают реальное изображение, образованное объективом, и корректируют аберрацию, которая может возникнуть во время визуализации объектива.

(ii) Промышленный микроскоп для электронного импорта

Проницательный электронный микроскоп (TEM)

- Электронная эмиссия: высокоскоростная эмиссия электронных лучей из электронных пушек. Электронные пушки, как правило, имеют два типа теплового катодного излучения и полевого излучения. Теплокатодный эмиссионный тип излучает электроны, нагревая вольфрамовую проволоку и другие материалы, в то время как полевой эмиссионный тип использует сильное электрическое поле для извлечения электронов с острой поверхности излучателя. Эти электроны обладают высокой энергией.

- Взаимодействие образцов: высокоскоростной электронный луч проходит через сверхтонкий образец (обычно толщина образца на наноуровне). Во время прохождения через образец электроны сталкиваются с атомами в образце, и степень рассеяния электронов также различна из - за различной плотности атомов и атомных порядков в разных частях образца. Это рассеяние приводит к изменениям в интенсивности и фазе электронного луча, что несет информацию о внутренней структуре образца.

- Система визуализации: электронный луч, прошедший через образец, фокусируется и визуализируется с помощью системы электромагнитных линз. Электромагнитная линза использует ток для преломления электронного луча через магнитное поле, создаваемое катушкой, по принципу, аналогичному преломлению света оптической линзой, но управление более гибкое. Регулируя ток электромагнитной линзы, можно изменить фокусное расстояние и эффект фокусировки линзы и сформировать изображение, отражающее внутреннюю структуру образца на экране или фотонегативе.

Сканирующий электронный микроскоп (SEM)

- Сканирование электронных лучей: электронный луч, излучаемый электронными пушками, сканирует поверхность образца по точкам под действием сканирующей катушки. Пятна электронного пучка очень малы и обычно могут фокусироваться на нескольких нанометрах.

- Сбор сигналов: когда электронный луч попадает на поверхность образца, он возбуждает образец для генерации различных сигналов, таких как вторичные электроны, электроны обратного рассеяния и т.д. Вторичные электроны - это низкоэнергетические электроны, которые выходят из поверхности образца после возбуждения атома электронным лучом и хорошо отражают морфологические характеристики поверхности образца. Электроны обратного рассеяния представляют собой электроны, возвращающиеся после упругого рассеяния падающего электрона с атомом образца, объем производства которых зависит от атомного номера образца и может использоваться для анализа распределения компонентов образца. Эти сигналы собираются соответствующими детекторами.

- Изображение: сигнал, собранный детектором, усиливается и обрабатывается, образуя изображение на дисплее в порядке сканирования электронного луча. Регулируя параметры электронного луча и способ приема детектора, можно получить изображения различной контрастности и информации для изучения формы поверхности, состава и т.д. образца.