Этот заказчик является профессиональным поставщиком подложечных материалов для технологии Gan on Sapphire на полупроводниковых сапфирах третьего поколения. Компания в соответствии с различными областями применения чипов и их расширенными техническими характеристиками для разработки подходящего материала подложки, посредством графического проектирования структуры, различных комбинаций материалов, реализации технологического процесса и т. Д. Для устройств нитрида галлия, чтобы обеспечить комплексное решение материала подложки.

В настоящее время основные продукты компании включают от 2 до 6 дюймов графической сапфирной подложки (PSS), графической композитной подложки (MMS), в основном для освещения, дисплея, заднего источника света, Mini/Micro LED、 Глубокие ультрафиолетовые светодиоды и другие области. Компания создала Центр исследований и разработок полупроводниковой подложки провинции Гуандун, вокруг следующего поколения передовых технологий фотоэлектронных устройств GaN для проведения комплексных исследований и разработок подложки и расширения, а также для проведения технических исследований, таких как сапфировая подложка для силовых устройств GaN.

Измеритель толщины мембраны FR - Scanner представляет собой интерферометрию видимого света в диапазоне длин волн 370 - 1020nm, которая может измерять толщину мембраны в диапазоне 12 нм - 100um с точностью до 0,1% или 1 нм и точностью 0,02 нм. Это установка для измерения толщины мембраны с высокой точностью смещения платформы, которая реализует функцию измерения многоточечного Mapping, основанную на 8 « образцах с максимальной скоростью измерения до 300 точек в минуту».