Компания является китайским институтом по исследованию технологии легирования полупроводников третьего поколения карбида кремния (SiC) и разработке, проектированию, изготовлению, применению и продаже устройств. Исследователь, занимающийся проектированием и расширением структуры мощных полупроводниковых чипов, MOSFET, проектированием и применением чипов IGBT, упаковкой и охлаждением полупроводниковых силовых устройств третьего поколения.

Thetametrisis - это высокотехнологичная компания, независимо разработанная Греческим национальным центром научных исследований и разработок, основной технологией которой является использование спектрального анализа оптического отражения для точного измерения толщины и скорости преломления одного слоя и слоя в диапазоне от нескольких нанометров до микрон.

FR - Scanner (370 нм - 1020 нм) - это небольшой настольный измерительный прибор, предназначенный для автоматического измерения толщины покрытия в разных местах на кристаллической окружности. FR - Scanner может быстро и точно измерять свойства пленки, такие как толщина, скорость преломления и т.д. Станция wafer с вакуумной адсорбцией может тестировать продукты разных размеров и форм.

FR - Scanner сканирует весь кристаллический диск с помощью вращающихся пластин и линейно движущихся кристаллических пластин высокой скорости и точности (радиус и угол), что позволяет записывать точные данные отражения с высокой степенью повторения, что делает FR - Scanner идеальным инструментом для картирования покрытия или другого покрытия на кат - line и online - line кристаллах.

FR - Scanner предлагает широкий спектр конфигураций приложений, тонкую пленку до нескольких нанометров, толщину до нескольких сотен микрон и конфигурацию специального программного обеспечения для повседневного использования. FR - Scanner обеспечивает отличную производительность с точки зрения точности, точности, воспроизведения и долгосрочной стабильности.