FR - Scanner - AIO - Mic - XY200 является одним изВстроен микроскоп.Автоматизированная система картирования толщины пленки для измерения толщины однослойного и многослойного покрытия на полностью автоматизированной картографической кристаллической окружности. Электрическая несущая станция X - Y обеспечивает маршрут подходящего размера 200 мм x 200 мм и обеспечивает различные оптические конфигурации в спектральном диапазоне 200 - 1700 нм.