Электрические очки Funar оснащают клиентов вторичным электронным режимом визуализации, что делает еще один шаг вперед в наблюдении за стереоскопическим внешним видом образца. У FENAR есть « глаза» двух образцов наблюдения - детектор обратного рассеяния (BSD) и детектор вторичных электронов (SED), которые могут удовлетворить подавляющее большинство ваших требований, независимо от того, какие у вас потребности в наблюдениях.

Квадратный электронный режим

Внутри настольных сканирующих зеркал Fennar может быть установлен вторичный электронный зонд для сбора вторичных электронов, выброшенных из образцов. Эти вторичные электроны в основном происходят из поверхности на расстоянии от 1 до 10 нм от образца. Из - за небольшой глубины падения область действия падающего электрона мало отличается от размера пятна пучка, входящего в луч, поэтому разрешение вторичных электронов при тех же условиях лучше, чем изображение обратного рассеяния. Кроме того, поскольку вторичные электроны более чувствительны к углу наклона образца, вторичные электронные изображения могут представлять лучшую трехмерную форму, как показано на рисунке ниже.