Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Funa Scientific Instruments (Shanghai) Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Скачать материалы> >Почему математика важна? Используйте формулу, чтобы объяснить вам преимущества сканирующего зеркала с низким напряжением для наблюдения за непроводящими образцами
Скачать

Funa Scientific Instruments (Shanghai) Co., Ltd

  • Электронная почта

    info@phenom-china.com

  • Телефон

    18516656178

  • Адрес

    Шанхайская площадь Хунцяо Либао, комната T5705

Свяжитесь сейчас
Почему математика важна? Используйте формулу, чтобы объяснить вам преимущества сканирующего зеркала с низким напряжением для наблюдения за непроводящими образцами
Дата:2020-06-23Читать:1

Что такое заряженный эффект?

Сканирующий электронный микроскоп в основном используется для микроморфологических наблюдений поверхности образца, но при наблюдении за образцом часто из - за эффекта заряда и электричества изображение необычайно яркое, искаженное или даже размытое, что серьезно влияет на качество изображения.

Рисунок 1 Характеристики эмиссии электронов твердых изоляционных материалов. Горизонтальные координаты - падающая электронная энергия, а вертикальные координаты - выход электронов образца. Явление заряда может быть выражено по закону тока Кирхгофа, т.е. сумма тока, который течет к узлу в любой момент времени, равна сумме тока, вытекающего из узла. Его можно выразить следующей формулой:

Из них IpЭто ток падающего электрона, δIb)Это сумма токов рассеянных электронов и вторичных электронов, IСКЭто ток заземления образца, а Q - разрядный заряд во времени t.