С 26 по 30 сентября в Уханьском международном конференц - центре состоялась ежегодная научная конференция по электронной микроскопии 2025 года. В связи с тем, что мы продвигаемся вперед, чтобы исследовать и искать истину для страны, мы открыли празднование 45 - летия со дня основания Китайского общества электронной микроскопии (за рубежом). Эта ежегодная конференция посвящена празднованию. Микроскопы с их собственными знаниями и преданностью решают тайны микромира, смело берут на себя ответственность за научно - техническую державу и постоянно продвигаются вперед.

Тема этого ежегодного совещания: микроскопическая мечта за пять лет, с энтузиазмом сообщающая Шэньчжоу. На этом ежегодном совещании было создано 15 тематических секций по материаловедению и наукам о жизни:

1. Микроскопическая теория, инструментальные методы и методы;

2. Электронная микроскопия на месте;

3. Микроструктурные характеристики функциональных материалов;

4. Структурные материалы и дефекты, интерфейсы, поверхности, фазовые переходы и диффузия;

5. Применение передовых методов микроанализа в промышленных материалах;

6. Микроскопическое представление сканирующего зонда (STM / AFM и т.д.);

7. Электронная дифракция и электронная голограмма (включая SEM, EBSD и TEM);

8. Фокусированный ионный пучок (FIB) для применения в материаловедении;

9. Криогенная электронная микроскопия;

10. Разработка и применение биомедицинских зеркальных технологий;

11. Применение микроскопии в области сельского хозяйства, лесоводства и биологических наук (микроскоп с гиперразрешением, лазерный конфокальный микроскоп и т.д.);

12. Исследования и применение электронной микроскопии в сельском и лесном хозяйстве;

13. Микроскопические представления передовых материалов и передовые инновации;

14. Микроскопические научные приборы и передовые материалы;

15. Микроскопическая платформа интеллектуальное обновление и открытый обмен.

А

Компания Shanghai Science Instruments (Shanghai) Co., Ltd. (далее именуемая « Funa Technology») была приглашена принять участие в конференции, и по случаю выпуска новой продукции, будет представлена на месте с автоматическим сканирующим зеркалом Phenom XL в комнате Funa Daxua, добро пожаловать на 5 - й этаж【5-17】Восстановление научно - технического стенда испытательного опыта и обмена, чтобы обсудить новейшие технологии представления материалов и подготовки!

• Время проведения заседаний

26 - 29 сентября 2025 г. (прибытие 26 сентября)

• Место проведения Конференции

Уханьский международный выставочный центр

Восстановление технологического стенда.5 - 17

Взаимодействие на месте

Капибала, "Птица с чесноком" ждёт, когда ты придешь за ней.

Сессия 26 - 29 сентября

Сосредоточьтесь на восстановительных технологиях / летающих зеркалах Public

ОтветитьКурить (chou) приз"

Заполните анкету, чтобы принять участие в взаимодействии!

О восстановительных технологиях

Основанная в 2012 году, Reconnaissance Technology сосредоточилась на внедрении передовых и стабильных научно - аналитических инструментов и производственного оборудования в Европе и Соединенных Штатах, чтобы помочь Китаю в научных исследованиях и инновациях и модернизации промышленности. Компания обслуживает 2500 + китайских пользователей и установила долгосрочные и стабильные партнерские отношения с почти 10 производителями, известными на международном уровне, чтобы совместно предоставлять высококачественные продукты и профессиональные услуги китайским пользователям. Основные направления деятельности заключаются в следующем:

• Комплексная микроскопия:Настольные сканирующие зеркала Phenom, Нидерланды, настольная микроскопическая КТ с высоким разрешением, NEOSCAN, Бельгия, и ионный измельчитель Technoorg Linda, Венгрия

• анализ линз на месте:: Нидерландский стержень DENSSOLUTIONS для прототипов на месте, венгерский прибор для ионного усовершенствования аргона Technoorg Linda TEM

• Проверка чистоты восстановления:Нидерландская система контроля чистоты Phenom ParticleX (литиево - электрические, автомобильные, оптические модули, стальные включения); Голландская система визуального обнаружения частиц Fastmicro

• Восстановление нанопроизводства:Американская система осаждения порошкового слоя Forge Nano, голландская система осаждения наноаэрозолей VSParticle

• Восстановление полупроводников:Полупроводниковый шланг LabSEMI

• Восстановление наук о жизни:Венгерский двухфотонный микроскоп Femtonics

PART.01 Phenom Настольные сканирующие зеркала

Fener, как первый настольный сканирующий электронный микроскоп с полным кванским сферическим воротником (ling) (xian), прост в эксплуатации, быстро и качественно изображен и пользуется поддержкой многих исследователей.

Выпущено новое устройство - автоматическое сканирующее зеркало Phenom XL G3

Недавно выпущенное зеркало автоматического сканирования большой камеры Phenom XL G3 открывает новую эру сканирующих зеркал с 3000 - часовым долгоживущим кристаллическим кабелем CeB и функциями интеллектуальной автоматизации ИИ! Будь то контроль качества, исследования и разработки или точный анализ, Phenom XL G3 улучшит вашу работу.

• Стабильно и надежно:Лучшие технологии 80 лет.

• Использование кристаллических ламп CeB6:3000 ч сверхдлительный срок службы, в среднем 5 лет для смены нити.

• Автоматизация и интеллектуальные сканирующие зеркала для Индустрии 4.0:Открытый программный интерфейс для создания персонализированного процесса обнаружения « Black Light Lab», который поддерживает картографические мультимодальные, многомерные автоматические головоломки и ассоциации.

• Не выбирайте среду установки:Встроенная система амортизации может быть размещена непосредственно в производственном цехе, лаборатории QC на высоком этаже и так далее.

• Оригинальный интегрированный энергетический спектр EDS:От электронно - оптических настроек, сбора изображений до спектрального анализа и распределения поверхностей, все они выполняются в одном и том же, интуитивно понятном интерфейсе.

• Функция низковольтного изображения:Для непроводящих, плохо проводящих и чувствительных к электронному лучу образцов, без распыления золота, все еще есть возможность визуализации.

Самое высокое разрешение - сканирующее зеркало с настольным полем Phenom

Настольная площадка Fenna излучает сканирующие зеркала, сейсмическую защиту, на настольном корпусе, чтобы получить характеристики, близкие к крупному полевому запуску. Отличная способность визуализации низкого напряжения уменьшает повреждение и проникновение электронного луча в образец и в значительной степени восстанавливает истинную форму образца. Продолжение интегрированной конструкции спектра зеркал, обновленное быстрое сканирование поверхности может мгновенно отображать распределение выбранных элементов, функция спектрального анализа в реальном времени значительно повышает эффективность обнаружения.

Модель рекомендована

Сканирующие линзы Pharos STEM

• Разрешение лучше 1 нм

• Режим изображения: BF, DF, HAADF

Настольные сканирующие зеркала Pharos G2

• Разрешение: лучше 1,5 нм

• Увеличение: 2000 000 x

AFM - SEM Атомно - силовое сканирующее зеркало

Появление технологии AFM - in - SEM сочетает в себе атомно - силовой микроскоп (AFM) со сканирующей электронной микроскопией (SEM) для достижения полимодального корреляционного анализа. Он не только точно направляет зонд в интересующую область (ROI), но и надежно отображает электрические свойства.

Модель рекомендована(Нажмите на картинку, чтобы увидеть подробную информацию)

Фенома AFM-SEM

Атомные сканирующие зеркала. В сочетании с преимуществами настольного сканирующего зеркала Fenna и атомно - силового микроскопа был реализован многомодальный корреляционный анализ образцов в одной и той же системе.

LiteScope АФМ-СЕМ

Технология синхронизации совместима с Symer Fesser, TESCAN、 Системы SEM основных брендов, таких как ZEIS, Hitachi и JEOL, также могут быть настроены на другие фирменные зеркала.

PART.02 Подготовка образцов Technoorg Linda

Ионные измельчители серии Technoorg Linda, ионные дефляторы и ионные усовершенствования являются мощными инструментами для подготовки образцов SEM / TEM / XTEM / FIB. Эта серия продуктов использует технологию ионного пучка, которая позволяет быстро измельчать образцы, тонкую обработку поверхности и окончательную полировку. Ионная шлифовальная система - это высокоточная технология обработки поверхности, которая в основном используется в материаловедении и полупроводниковой промышленности. В настоящее время подавляющее большинство ионных шлифовальных систем работают с традиционными сенсорными экранами или механическими клавиатурами. Новейший продукт Technoorg Linda, SEMPREP SMART, инновационно использует интеллектуальный режим работы ИИ, который является интерактивной системой измельчения ионов!

Часть 03DENSSOLUTIONS TEM Оригинальный образец

Продукты DENSSOLUTIONS могут оказывать внешние стимулы на исходные образцы TEM, захватывая динамические явления образцов TEM в реальных условиях. В настоящее время предлагаются четыре варианта экспериментов на месте: Wildfire TEM с нагревом на месте, Lightning TEM с тепловой энергией на месте, Arctic TEM с криогенным охлаждением на месте, Climate Infinity TEM с газовым нагревом на месте и Stream Infinity TEM с жидким нагревом на месте, что открывает возможности для изучения различных материалов и процессов в соответствующих условиях в различных дисциплинах.

PART.04 Настольная микроКТ с самым высоким разрешением

Настольная микро - КТ - сканирующая система NEOSCAN требует меньше места, не требует технического обслуживания и имеет высокое пространственное разрешение. Способность реально воспроизводить внутреннюю структуру материала стала незаменимым средством тестирования в исследованиях материалов, анализе отказов и оптимизации процесса.

ЧАСТЬ.05 ФемтоникаБифотонный микроскоп

Двухфотонная микровизуализация « Fermi Optics» из Будапешта, Венгрия, предназначена для предоставления передовых двухфотонных систем визуализации ведущим исследователям по всему миру. Акустико - оптический трехмерный двухфотонный микроскоп Atlas использует акустическую и оптическую технологию и имеет гораздо более высокую скорость сканирования, чем те, которые имеются на рынке. Скорость 3D - сканирования случайных точек доступа100 кГцСкорость быстрого сканирования произвольного кадра40 fps@510 × 510 pxПри фокусировании на поле зрения до3000 кадров в секунду.Его установилиБолее 20 мировых рекордовИ обладает44 Международные специализации (zhuan)，Более 200 технических публикацийБольшая часть результатов была опубликована в ведущих журналах, таких как Nature, Science, Cell и Neuron.

PART.06 Порошковые нано - атомные отложения

Forge Nano использует технологию осаждения в атомном слое (ALD), которая предлагает полный спектр решений от разработки покрытия до промышленного производства, включая технологию псевдоожиженного слоя, вращающийся слой, вибрационный слой и многое другое. Выполняя обработку порошка от миллиграммов до тонн, вы можете легко реализовать план разработки продукта от лаборатории до производства. ALD может использоваться в различных электродах, электролитных порошковых материалах, имеет преимущества продления срока службы батареи, снижения газообразования, уменьшения необратимых потерь лития и высокой стабильности работы напряжения.

PART.07 Система наноосаждения VSParticle

Нанопечатанная система осаждения VSP - P1 позволяет осуществлять прямую печать неорганических наноструктурных материалов с уникальными свойствами. Частицы печатного покрытия производятся генератором наночастиц VSP - G1, а аэрозольные частицы, образующиеся в результате искровой абляции, имеют типичный размер частиц менее 20 нм и не содержат поверхностно - активных веществ или каких - либо других органических добавок. Весь процесс производства и печати наночастиц автоматизирован и не требует последующей термообработки органических компонентов для удаления.