Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Hangzhou Grampa Technology Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Статья

Hangzhou Grampa Technology Co., Ltd

  • Электронная почта

    xusan@hzglp.com

  • Телефон

    13575736133

  • Адрес

    3778 Jiangnan Avenue, район Биньцзян, Ханчжоу

Свяжитесь сейчас
Элементы сборки микроскопа с нано - сканирующим зондом
Дата:2025-08-13Читать:0
Ниже приведены основные моменты и ключевые этапы сборки микроскопа с нано - сканирующим зондом:
Создание базовой структуры
1. Установка системы виброизоляции: используйте в качестве основания воздушный пружинный виброизоляционный стол или губчатый резиновый амортизатор, откалибруйте погрешность 0,1 ° с помощью горизонтометра, чтобы обеспечить вибрационный шум окружающей среды ниже 1 мкм; При наличии активной системы виброизоляции соедините барометрические / гидравлические трубопроводы по инструкции.
2. Установка экранов: установка металлических экранов на виброизоляционных платформах, изоляция корпуса от основания и резервирование вентиляционных отверстий для предотвращения термического дрейфа. Некоторые модели должны синхронизировать установку активных виброизоляционных компонентов.
Станция для отбора образцов и система определения местоположения
1. Механическая установка: на стенде образца в основном используется трехмерная нанолокационная станция, при установке необходимо обеспечить строгую ортогональность оси движения и направления сканирования зонда; плоскость сканирующего стола проверяется с помощью лазерного интерферометра или оптического микроскопа, а угол наклона должен быть меньше 0,05°.
2. Фиксирование образца: фиксация образца с помощью двухстороннего клея, вакуумной адсорбции или магнитной базы для обеспечения того, чтобы поверхность была параллельна сканирующей станции; Проводящие образцы требуют электрического контакта с медной фольгой или серебряным клеем, чтобы избежать накопления заряда.
Зонд и консольная система
1. Сборка стойки зонда: соединить основание регулируемого угла тангажа рамы зонда с консольным зажимом, удерживая фиксированный зонд вакуумной адсорбцией или электростатическим зажимом для предотвращения механической деформации; Длинная ось регулируемой консоли параллельна оси X стенда для образцов, и отклонение контролируется в пределах ±0,5 °.
2. Настройка интервала: Сначала используйте оптический микроскоп, чтобы предварительно настроить зазор между консолью и образцом до 10 - 50 мкм, а затем переключитесь на режим интерферометра, используя лазерный отраженный сигнал для мониторинга прогиба консоли, постепенно уменьшайте зазор до субнанометрового уровня.
Отладка оптической системы обнаружения
1. Лазерное выравнивание: полупроводниковый лазер, связанный волоконно - оптическим волокном, вертикально облучает заднюю часть консоли за спектроскопом, диаметр пятна около 50 мкм; Четырехквадрантный фотодетектор должен быть коаксиальным с консольным отражающим светом и регулировать фокусное расстояние линзы, чтобы фокусировать пятно в центре детектора.
2. Оптимизация чувствительности: отрегулируйте позолоченное покрытие в области отражения консоли для увеличения отражательной способности (> 70%), и тонкая настройка усиления детектора гарантирует, что крошечное смещение консоли (< 1 нм) может генерировать разрешаемые сигналы напряжения.
Электронная система управления
1. Сигнальное соединение: выходной сигнал QPD подключается к низкошумному усилителю тока (с усилением 10⁴-10⁵V / A), частота отсечения фильтра установлена на уровне 10 кГц для подавления высокочастотного шума; Сигнал пьезоэлектрического керамического привода оси Z генерируется PID - контроллером и должен регулировать полосу пропускания обратной связи в соответствии с частотой консольного резонанса (10 - 500 кГц).
2. Сбор данных: карта сбора данных (16 - битное разрешение) должна быть синхронизирована со сканирующим триггерным сигналом, частота отбора проб должна быть не менее чем в 5 раз выше резонансной частоты; Конец программного обеспечения калибрует дрейф нулевой точки, устанавливает область сканирования (например, 50 × 50 мкм²) и время пребывания пикселей (1 - 100 мс / pixel).
Проверка калибровки
После завершения сборки требуется шумовое тестирование, проверка режима изображения (контактный / постуклый режим) и нелинейная коррекция (например, графеновый образец) для обеспечения соответствия характеристик прибора стандарту.
Подводя итог вышесказанному, сборка нано - сканирующего зондового микроскопа требует интеграции различных технологий, таких как прецизионная механическая настройка, оптическое выравнивание, электронное управление и защита окружающей среды, и каждый шаг должен строго соответствовать спецификациям для обеспечения высокого разрешения прибора.