В области электроники и общей металлоочистки точность решает все. Будь то обеспечение целостности платы или проверка однородности защитного покрытия, точное измерение толщины и состава покрытия имеет решающее значение. В основе современных XRF - устройств лежит кремниевый дрейфующий детектор (SDD).

Если вы занимаетесь химическим никелевым покрытием (EN) или любой сложной многослойной обработкой металлических поверхностей, инвестиции в XRF - анализатор, оснащенный высокопроизводительным SDD, являются неизбежным выбором.

Обычно анализаторы XRF оснащены двумя типами детекторов: пропорциональными счетчиками или полупроводниковыми детекторами. В полупроводниковых детекторах кремниевый дрейфующий детектор (SDD) считается лучшим вариантом производительности.

Кремниевый дрейфующий детектор - это твердотельный рентгеновский детектор, который измеряет свою энергию, обнаруживая ионизирующие эффекты, создаваемые рентгеновскими фотонными кремниевыми кристаллами. SDD может синхронизировать несколько элементов, не только уменьшая количество требуемых сканов, но и значительно сокращая общее время измерения.

Эти преимущества делают SDD идеальным вариантом для промышленных применений, требующих высокой скорости, точности и надежности, особенно в области измерения толщины покрытия и анализа элементов.

Химическое никелирование из - за его коррозионной стойкости, высокой твердости и равномерного осаждения и других характеристик широко используется в электронике, автомобилях, аэрокосмической промышленности и общей металлоочистке.

Технология микро - XRF стала ключевым средством анализа толщины покрытия при контроле качества всего процесса химического никелирования. Эта технология позволяет точно измерять осадки покрытия, когда требуется подготовка сплавов в различных пропорциях никеля и фосфора. Поскольку физико - химические свойства химического никелирования в основном зависят от содержания фосфора (% P), концентрация фосфора должна быть точно проверена, чтобы обеспечить равномерное распределение толщины покрытия и достичь целевого содержания фосфора.

Традиционные устройства XRF с этим не справляются: старые детекторы не могут надежно обнаружить фосфорные элементы (особенно в условиях воздушного пути). Современные детекторы SDD (такие как анализаторы покрытия FT230 и FT160) могут синхронно измерять содержание никеля и фосфора даже в сложных геометрических формах.

Высокопроизводительный анализатор FT160 с многокапиллярной оптической системой (размер пятна < 30 мкм) позволяет проводить неразрушающий точный анализ химического никелевого покрытия на микроэлементах электронной промышленности. Его прочный многофункциональный дизайн достаточен для решения сложных промышленных условий.

Анализатор FT230 разработан с использованием высокочувствительного кремниевого дрейфующего детектора большой площади и оптимизирован для анализа покрытия в области электроники и металлообработки. Инструмент предназначен для решения сложных сценариев промышленного применения с высокой скоростью и точностью обнаружения.

I. Высокая эффективность обнаружения

До 72% времени традиционного тестирования XRF уходит на подготовительную работу. FT230 решает эту проблему с помощью следующих инновационных функций:

• Find My Part ™ (Найти мой образец): Автоматическая загрузка программы обнаружения с помощью технологии машинного зрения (включая программу калибровки, размер коллиматора и параметры анализа)

• Автофокусная система позиционирования: сокращение рабочего времени на 60% для достижения измерений без ограничения расстояния

• Камера широкоугольного наблюдения: повышение эффективности позиционирования на 20%, особенно для больших и сложных деталей

Работая вместе, эти функции позволяют сэкономить около 150 рабочих часов на оператора в год.

Высокопроизводительные SDD гарантируют точность обнаружения

Расположенный на FT230 кремниевый дрейфующий детектор обладает тремя основными преимуществами:

• Высокое разрешение: точное разделение соседних характеристических пиков

• Быстрый сбор: удовлетворение потребностей в тестировании высокого потока

• Низкий уровень шума: надежное обнаружение низкоэнергетических элементов, таких как фосфор

Это делает его идеальным вариантом для обнаружения химического никелирования, где точное измерение фосфорных элементов имеет решающее значение для свойств покрытия.

Интеллектуальная программная платформа: FT Connect

Интерфейс FT Connect, предназначенный для удобства работы, включает:

• Панорамный вид образцов: визуальное позиционирование

• Обтекаемый интерфейс управления: фокус для обнаружения цели и представления результатов

• Автоматический экспорт данных: бесшовная стыковка систем SCADA / MES / ERP / QMS

Дизайн не только сокращает цикл обучения, но и более эффективно уменьшает человеческие ошибки, даже непрофессиональные пользователи могут быстро начать.

Будучи многофункциональным анализатором XRF, FT230 широко используется в различных сценариях применения в производстве электроники и обработке металлических поверхностей. Прибор хорошо работает с точки зрения точного измерения покрытия из золота, никеля и меди на печатных платах (PCB), обеспечивая надежную производительность электронных компонентов.

При обнаружении покрытия разъема он может точно проверить толщину и состав покрытия, такого как олово, серебро и никель, эти параметры имеют решающее значение для электропроводности и коррозионной стойкости. Для пластмассовых гальванических применений FT230 обеспечивает однородность металлического осаждения на непроводящей основе, поддерживая контроль качества декоративных и функциональных покрытий. Кроме того, прибор также подходит для общих задач обработки металлических поверхностей и может точно анализировать сложные многослойные покрытия и компоненты сплавов.

Во всех сценариях применения кремниевый дрейфующий детектор (SDD), оснащенный FT230, обеспечивает быстрые, точные и воспроизводимые результаты испытаний, помогая производителям постоянно соответствовать строгим стандартам качества и нормативным требованиям.

Hitachi обладает глубоким наследием в области анализа покрытий XRF, а ее техническое накопление восходит к концу 1970 - х годов. В результате глобального сотрудничества в области исследований и разработок FT230 опирается на широкий спектр отзывов клиентов, которые не только глубоко понимают реальные проблемы пользователей XRF, но и предлагают инновационные и практические решения.

В сегодняшней быстро развивающейся производственной среде точность и эффективность являются бескомпромиссными нижними линиями. Независимо от того, наносите ли вы разъем для смартфона или коррозионно - стойкое покрытие для аэрокосмических компонентов, способность точно измерять толщину и состав покрытия имеет решающее значение.

Силиконовые дрейфующие детекторы являются ключом к достижению этой точности. В то время как Hitachi FT230 предлагает вам полное решение, объединяющее передовые технологии обнаружения, гуманное программное обеспечение и автоматизацию.

Если вы стремитесь повысить уровень контроля качества в электронном производстве или обработке металлических поверхностей (особенно химического никелирования), FT230 - это не только инструмент обнаружения, но и инструмент для создания конкурентных преимуществ.