Видео - руководство для моделирования дисплеев от взаимодействия заряда - экситона до управления светом

Система спектрометрии Phelos OLED / анализатор углового спектра

Phelos используется для измерения спектральных характеристик излучения и угла поляризации OLED, перовскитовых светодиодов и других светоизлучающих устройств, а также для измерения спектра поляризации s и p устройства, соотношения между спектром излучения и углом, а также для расчета угла света и распределения положения экситонов в исходном слое.

Функции измерения PL:Органические, квантовые точки, спектр излучения и угол поляризации плёнки перовскита

Функции измерения EL:OLED、 Перовскитные светодиоды и другие светоизлучающие устройства

Программа моделирования Setfos

Setfos используется в различных типах солнечных батарей (включая перовскиты, органические, слоистые, кремниевые батареи и т. Д.), перовскитовых светодиодов, OLED - устройств и связанных с ними фотоэлектрических материалов для моделирования и оптимизации конструкции устройства, сборки, оптических, электрических характеристик и характеристик фотоэлектрических материалов.

Четыре модуля: абсорбционный модуль, рассеянный / усовершенствованный оптический модуль, дрейфующий диффузионный модуль, модуль оптической эмиссии

Система тестирования переходных характеристик солнечных батарей Paios / OLED

Paios используется в солнечных батареях для спектра переходного фотоэлектрического потока TPC, нестационарного спектра фотоэлектрического напряжения TPV, теста корреляции интенсивности света, глубокого переходного спектра DLTS и т. Д. Для измерения и анализа, всестороннего и углубленного представления характеристик скорости переноса носителей, срока службы и концентрации носителей, динамических процессов носителей, распределения примесей и ловушек и других параметров производительности, что позволяет провести полный и эффективный анализ и измерение скорости переноса носителей в солнечных элементах / OLED - устройствах и других органических полупроводниках.

Функции тестирования Paios:

• Переходный спектр фотоэлектрического потока TPC

• Переходный спектр фотоэлектрического напряжения TPV

• Разрушение напряжения открытого контура OCVD

• Проверка корреляции интенсивности света, кривая J - V переменной интенсивности света, Isc - интенсивность света, Voc - интенсивность света, идеальный фактор и т.д.

• Линейное извлечение носителей тока под давлением Photo - CELIV, Dark - CELIV, Delaytime - CELIV и т.д.

• Выбираем заряд CE

Темная инъекция DIT

• спектр фотоэлектрического потока с модуляцией интенсивности IMPS

• Модулированный на прочность спектр фотоэлектрического давления IMVS

• Спектр сопротивления IS

• Конденсаторный спектр напряжения CV

• Глубокоэнергетический переходный спектр DLTS

• Переходный электролюминесцентный спектр TEL

• Электрический ток - напряжение - спектр света J - V - L и т.д.

• Стенд для испытания переменных температур: 120°C до 150°C