Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Nanjing Zhilian Optical Technology Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Случаи успеха> >

Nanjing Zhilian Optical Technology Co., Ltd

  • Электронная почта

    303924194@qq.com

  • Телефон

    13585156439

  • Адрес

    Нанкин, район Люхэ, город Чжучжэнь, улица Чжуфэн, дом 5, комната 2302

Свяжитесь сейчас

Анализ отказов - это диагностика причины отказа электронного элемента, в процессе анализа отказов часто необходимо использовать приборы и оборудование, а также химические средства для анализа, чтобы подтвердить режим отказа, определить причину отказа, изучить механизм отказа, предложить меры предосторожности для улучшения. Его методы можно разделить на вредоносный анализ, неразрушающий анализ, физический анализ, химический анализ и так далее. При микроморфологическом обнаружении, особенно при наблюдении сечения или внутренней структуры, необходимо использовать ионный абразивный прибор + сканирующее зеркало для анализа отказов.
Ионный измельчитель в настоящее время является широко используемым инструментом для обработки проб, который может выполнять профилирование под разными углами, а также полировку и очистку поверхности для подготовки проб SEM, подходящих для анализа неисправностей полупроводников.

图片

Ионный измельчитель

ТЕХНОРГ ЛИНДА

1

图片

Сканирующее зеркало

Фенома SEM

2


图片

А?А?

01

Основные принципы ионного измельчителя


Идеи и методы анализа отказов чипов

Деловой обмен 1


1

Приоритет для определения места отказа

图片
图片

2

Заблокируйте положение анализа отказов и решите разрезать его ионным измельчителем.

3

Вырезание в ионном измельчителе

图片
图片

4

После разреза образец, расширенное наблюдение

5

При увеличении обнаруживается асимметричность положения сбоя влево и вправо.

图片
图片

6

После дальнейшего усиления обнаруживается деформация сжатия, трещина в неисправном положении, является основной причиной отказа

7

положение деформации и растрескивания

Увеличение: 20000x

图片
图片

8

положение деформации и растрескивания

Удвоение: 40000 x


Анализ отказов при испытании упаковки IC

Деловой обмен 2


图片

1

Вырезать неисправное положение

图片

2

Вырезание в ионном измельчителе


图片

3

Позиция 1. После увеличения обнаруживается, что здесь нет соединения. Увеличение: 30000x

图片

4

Позиция 2. После увеличения обнаруживается трещина здесь. Увеличение: 50000x


Анализ отказов PCB / PCBA

Деловой обмен 3


图片
图片


Ионный измельчитель

СК-2100

图片
  • Подходит для резки профилей ионного пучка, полировки поверхности

  • Образец поперечного сечения можно изготовить под разными углами резания

  • Может быть использован для полировки образцов или для их очистки на заключительном этапе.

  • Ионные пушки сверхвысокой энергии для быстрой полировки

  • Низкоэнергетическая ионная пушка предназначена для безотказного сброса и очистки поверхности после обработки

  • Простая работа, встроенная компьютерная система, полностью автоматическая настройка операций

  • Стандартизация системы охлаждения для различных типов образцов

  • Цветные камеры с высоким разрешением контролируют процесс полировки в реальном времени