Полностью автоматический толщиномер покрытия является ключевым оборудованием для современного промышленного контроля качества, его основная технология заключается в использовании оптимизированных принципов измерения для различных материалов и покрытий. Двумодовое слияние рентгеновской флуоресценции (XRF) и технологии электрических вихрей является передовым решением, разработанным для увеличения диапазона, точности и эффективности измерений. Эти два технических принципа сильно отличаются друг от друга и дополняют друг друга, создавая вместе мощную систему измерений.

Рентгеновская флуоресценция (XRF) Принципы измерения:

Технология XRF - это физический метод, основанный на возбуждении атомного уровня. Высокоэнергетические рентгеновские лучи, излучаемые прибором, облучают поверхность образца, возбуждая электроны внутри атомов в покрытии и матричном материале. Когда возбужденный атом возвращается к стабильности, выделяются вторичные рентгеновские лучи (т.е. флуоресценция) определенной энергии. Обнаруживая и анализируя энергию и интенсивность флуоресценции этих характеристик, можно качественно проанализировать состав элементов покрытия без потерь и точно количественно определить их толщину. Метод XRF заключается в том, что он может измерять покрытие на различных металлических покрытиях (например, золото, серебро, никель, палладий и т. Д.) и неметаллической основе (например, пластмассы, керамика), широкий спектр применений.

Принцип измерения электрического вихря:

Технология электрических вихрей является методом электромагнитной индукции. Катушка в измерительной головке входит в высокочастотный переменный ток, создавая переменное магнитное поле. Когда головка измерения приближается к проводящей металлической матрице, в матрице возникает вихревой ток (электрический вихрь). Этот электрический вихрь сам по себе создает антимагнитное поле, противоположное направлению исходного магнитного поля, что влияет на сопротивление катушки. Присутствие покрытия изменяет расстояние, которое магнитное поле передает к матрице, поэтому, точно измеряя изменение сопротивления катушки, можно рассчитать толщину непроводящего покрытия (например, краски, анодной оксидной пленки) на неметаллической магнитной металлической матрице (например, алюминия, меди) или толщину неметаллического магнитного покрытия на нетерметичной матрице.

Двойное слияние и умное переключение:

Суть двухмодового инструмента слияния заключается в « интеллекте». Устройство объединяет две головки измерения XRF и электрических вихрей и управляется усовершенствованной программной системой. Оператор просто вводит или автоматически распознает информацию о образце устройством (например, тип основного материала, тип покрытия), и система автоматически выбирает наиболее подходящую технологию измерения на основе встроенной базы экспертных знаний.

Например:

Измеряйте медное / никелевое / золотое покрытие на пластмассе, и система автоматически включает режим XRF.

Измеряя анодную оксидную пленку на алюминиевом материале, система автоматически переключается на электрический вихревой режим.

Это слияние значительно расширяет универсальность инструмента, достигая « одного многоцелевого». Он устраняет проблемы выбора пользователями измерительной технологии, на полностью автоматизированной измерительной платформе, может быстро и бесшовно обнаруживать детали различных материалов и процессов, значительно повышает эффективность и надежность обнаружения, отвечает сложным современным производственным требованиям контроля качества.