Полная спектральная аналитическая технология - это эволюция основных технологий современных металлополиэлементных аналитических спектрометров, в частности спектра плазмы с индуктивной связью (ICP - OES) и спектра прямого считывания дуговой искры (OES), который знаменует собой скачок в аналитическом режиме от « селективных измерений» до « панорамного захвата информации».

I. Принципы техники: от "подглядывания отверстий" до "панорамных камер"

Традиционные спектрометры полагаются на фиксированные или движущиеся щели с фотоумножителями для проведения измерений « точка - точка» в определенном положении длины волны, как и для наблюдения спектра с помощью одного « отверстия». С другой стороны, метод полного спектрального анализа использует твердотельные детекторы, такие как устройства с зарядовой связью (CCD) или устройства с зарядовой инжекцией (CID), как и « панорамная камера», которая синхронно собирает и записывает спектральную информацию обо всех точках длины волны в пределах всего диапазона длин волн (например, 170 - 800 нм) при одной экспозиции, образуя полный трехмерный куб спектральных данных (интенсивность - длина волны - время).

II. Основные преимущества: точность, эффективность и гибкость

Способность к анализу спектральных линий и коррекции фона: это ее значительное преимущество. Металлические образцы имеют сложную матрицу, перекрывающиеся спектральные линии и фоновые помехи. Полная спектральная технология, собирая информацию о каждой точке пикселя, может точно изображать фоновые контуры аналитических линий и прилегающих к ним областей и вычитать их с помощью гибких алгоритмов, таких как многоточечная, динамическая коррекция фона, что значительно повышает точность анализа, особенно в анализе микроэлементов.

Революционное упрощение разработки метода: при создании нового метода анализа нет необходимости заранее точно определять местоположение измеренной длины волны. После анализа образцов оператор может свободно выбирать из собранных полнооптических спектральных данных аналитическую линию с наименьшими помехами и оптимальным соотношением сигнала и спины и даже использовать несколько спектральных линий для взаимного анализа результатов анализа, что повышает надежность метода и эффективность разработки.

Возможности и гибкость повторного извлечения данных: как только полностью спектральные данные сохранены, это похоже на сохранение оригинального « спектрального негатива». Использование информации может быть реализовано в будущем, если необходимо обнаружить новые элементы, которые не были предустановлены в методе, или переоценить помехи элемента, без повторного тестирования образца, прямого доступа к историческим данным для повторной обработки данных (Reprocessing).

заключение

Благодаря синхронному захвату и глубокому извлечению спектральной информации в полном диапазоне технология полноспектрального анализа не только значительно повышает точность и антиинтерференционную способность металлополиэлементного анализа, но и изменяет традиционный процесс спектрального анализа с его гибкостью. Он стал мощным инструментом для решения сложных матриц, достижения точного анализа следов и разработки эффективных методов.