-
Электронная почта
li.fu@perkinelmer.com
- Телефон
-
Адрес
Шанхайский высокотехнологичный парк Чжанцзян, улица Чжанхэн, 1670
PerkinElmer Enterprise Management (Shanghai) Co., Ltd
Перкин Элмер представил второй учебный курс по методам измерения и обнаружения полупроводниковых материалов и устройств
Дата:2025-10-31Читать:0
Новости
"
С 28 по 30 октября 2025 годаШанхайский институт силикатов Академии наук КитаяОрганизаторыВторой учебный курс по методам измерения и обнаружения полупроводниковых материалов и приборовУспешно проводится в Шанхае. Являясь ведущим мировым поставщиком аналитических инструментов и решений,Перкин Элмер (PerkinElmer) приглашен принять участие в выставке и выступить с докладомПолная демонстрацияВ области обнаружения полупроводниковых материаловПередовые технологии и возможности локального обслуживания.
Справочная информация
ПолупроводникиПромышленность является интенсивной технологией, сложной технологией и включает в себя сотни прецизионных процессов. По мере того, как процесс производства продолжает сокращаться, чистота материала, точность производства и контроль качества также растут экспоненциально. В целях укрепления формирования контингента высококвалифицированных кадров и повышения способности исследователей понимать и применять передовые аналитические технологии, этот учебный курс объединяется86 специалистов из научно - исследовательских институтов, вузов, предприятий и учрежденийВокруг,Фотоэлектрические материалы, полупроводниковые материалы третьего поколения, датчики и MEMS, проверка надежности, анализ отказов, обнаружение дефектов и измерение и другие горячие направленияПроведение систематического обучения.
Перкин Элмер отлично проявил себя.
Мы установили на месте специализированный стенд, в котором представлены решения для анализа и обнаружения всего процесса для полупроводниковой промышленности, охватывающие:
? Анализ примесей высокочистых материалов (ICP - MS)
? Обнаружение микроэлементов (AAS, ICP - OES)
? Структура материала и представление состава (UV, IR, TEA)
? Аналитическое обнаружение органических загрязнителей и хлорсилана (GC / MS)
Привлечь многих исследователей, чтобы остановиться и обменяться, углубленно обсудить практические проблемы применения в переднем приводе, кристаллическом круге, упаковке и других аспектах.
Докладчик: Чжу Мин
А?Руководитель по применению аналитических приборов Перкин - Элмер
Содержание доклада
Система отчетности представленаПрименение технологии ICP - MS для обнаружения материалов на основе полупроводниковых металловОсновное внимание уделяется анализу ключевых проблем, стоящих перед анализом, таких какФункциональные эффекты матрицы, масс - спектральные помехи и стабильность долгосрочного анализа приборовПроблемы. Для решения этих проблем он представил соответствующие решения и методы оптимизации, такие как технология разбавления газа на всей базе, выбор условий плазмы, параметры устранения помех в универсальном бассейне и превосходная производительность переносимости базы и эффекта пространственного заряда с использованием передовых интерфейсов с большой апертурой с тремя конусами и четырехполюсных ионных отклонений, а также рассказал о примерах применения предшественников и экспериментальных данных.
В заключение он подчеркнул, чтотехнологические инновациииКонтроль качества всего процессаЭто движение полупроводниковых материаловБолее высокая чистота, более последовательное развитиеКлюч,Перкин Элмер будет полагаться на полный спектр профессиональных услуг и Shanghai Zhangjiang Semiconductor Cleater，Технология непрерывного глубокого анализа почвыОбеспечить надежную техническую поддержку для прогресса отрасли и широкого круга клиентов.
Заботьтесь о нас
