20 - я сессия Международного общества микроскопии прошла с 10 по 15 сентября этого года в BEXCO в Пусане, ЮжнаяКорея.

JEOL представляет IMC20 с полезной информацией о новых технологиях и практических технологиях, охватывающих все области, и размещает различные информационные блоки продуктов: модели JEM - ACE200F - TEM для полупроводников, стендовые семинары и удаленные презентации. Номер стенда: 1 выставочный центр, зал 1 S03 / 04, с нетерпением ждем!

Эксплуатационное оборудование

Дистанционная демонстрация JSM - IT800

JCM-7000

Gather-X JED Series DrySD™ Безоконные EDS

Выставочный семинар

Приглашенный доклад 1.

Вторник, 12 сентября, в 13:00

Путешествие Cryo-EMing в Корее

Профессор Джи-Чжун Сонг

Департамент биологических наук

Корейский передовый институт науки и технологий (KAIST), Дэджон, Корея

Приглашенный доклад 2.

Среда, 13 сентября, в 13:00

Марс - исследование наномагнитного мира

Профессор Наоя Шибата

Директор Института инженерных инноваций, Токийский университет

Удалённая демонстрация

JEM-ACE200F высокопропускной аналитический электронный микроскоп