Этот прибор использует квазидинамический (технический) и четырехзондовый методы для измерения коэффициента seebeck и удельного сопротивления образца, соответственно.нет
Может использоваться только для измерения массивных образцов полупроводников, металлических полуметаллических образцов, таких как константан, никель, висмут, графит, углеродные материалы и другие неметаллические образцы
Коэффициенты seebeck и удельное сопротивление, а также коэффициенты seebeck и удельное сопротивление проб пленки (нанометров).

* Преимущества
Обладает независимой интеллектуальной собственностью, имеет доступ к нескольким технологиям;
А?

Динамический метод измерения коэффициента seebeck позволяет избежать системных ошибок традиционных статических измерений в измерении разности температур, измерения более точны;
А?

Для измерения коэффициента seebeck и удельного сопротивления не используются зонды напряжения, чтобы избежать проблем с разрушением микротермопар;
А?

Использование двухсторонней системы нагрева;
А?

Автоматическая защита от отключения электроэнергии;
А?

С пленочным аксессуаром (без хоста, прямого использования) можно непосредственно измерить коэффициент seebeck и удельное сопротивление при комнатной температуре пленочного материала.