Погруженный в воду ультразвуковой микроскоп (SAM) - это неразрушающее контрольное оборудование для визуализации внутренней структуры материала с высоким разрешением с использованием свойств ультразвука, распространяющегося в жидкости. Он широко используется в сценариях, требующих неразрушающего обнаружения, анализа внутренних дефектов или микроструктурных наблюдений, особенно в полупроводниковой и электронной промышленности, материаловедении и исследованиях и разработках, автомобилестроении и аэрокосмическом производстве.
Погруженный в воду ультразвуковой микроскоп излучает ультразвуковой луч через ультразвуковой зонд и достигает верхней поверхности изделия через среду с жидкой связью (обычно воду), образуя отражение верхней поверхности. При прохождении ультразвукового луча через детали дефекты внутри материала (например, трещины, щели, пустоты и т. Д.) образуют различные отраженные и преломляющие волны. Собирая и анализируя эти волны, можно получить изображения ультразвуковой интенсивности внутри материала, чтобы точно определить местоположение, площадь и долю дефекта.
Основные конфигурации погруженного в воду ультразвукового микроскопа включают промышленные компьютеры, программное обеспечение для сбора и анализа, ультразвуковые преобразователи (зонды), машины управления, системы циркуляции воды, рамную структуру из нержавеющей стали и модули движения. Ультразвуковые преобразователи являются ключевыми устройствами, определяющими частоту ультразвука, частотный диапазон которых обычно составляет от 10 до 2000 МГц.
сценарий применения
Полупроводниковая и электронная промышленность: используется для обнаружения упаковки чипов, обнаружения кристаллических кругов и анализа отказов электронных компонентов. Например, проверка качества сварки между чипом и базовой пластиной, оценка качества соединения кристаллической круглой связи, обнаружение внутренних трещин пассивных элементов, таких как емкость и сопротивление.
• Наука о материалах и НИОКР: используется для обнаружения композитов, металлов и сплавов, а также для анализа наноматериалов и пленок. Например, обнаружение расслоения полимеров, усиленных углеродным волокном, внутренних дефектов сварных соединений металлов, измерение толщины нанопокрытия и т.д.
• Автомобильное и аэрокосмическое производство: используется для обнаружения автомобильных деталей и аэрокосмических конструкций. Например, обнаружение дефектов литья корпуса / крышки цилиндра двигателя, засорение отверстия охлаждения лопастей турбины самолета, ударное повреждение композитного крыла и т. Д.