Электронный зонд JXA - 8230Это прибор для анализа микрокомпонентов с использованием характерных рентгеновских лучей, полученных в результате воздействия электронных лучей на образцы, которые могут использоваться для анализа химического состава минеральных микрорайонов в пластинах. В дополнение к нескольким более легким элементам, таким как H, He, Li, Be, есть элементы после U - элемента, которые могут быть подвергнуты качественному и количественному анализу. В больших количествах электронный зонд использует ускоренный и сфокусированный очень узкий электронный луч в качестве зонда, который возбуждает крошечную область образца, чтобы она излучала характерные рентгеновские лучи, измеряя длину волны и интенсивность рентгеновского луча и проводя качественный или количественный анализ элементов в этой микрообласти.

　Структура электронного зонда JXA - 8230:

Электронный зонд JXA - 8230 с помощью рентгеновского микроанализатора использует пучок электронов с тонким фокусом около 1 пм для возбуждения характерных рентгеновских лучей элементов в микрообласти поверхности образца и проведения качественного или количественного анализа химического состава микрообласти в зависимости от длины волны и интенсивности характерных рентгеновских лучей. Оптические системы, вакуумные системы и другие части электронного зонда в основном такие же, как и сканирующие зеркала, и обычно оснащены детекторами электронных сигналов вторичного и обратного рассеяния, которые сочетают в себе как организационную форму, так и анализ микрокомпонентов. В дополнение к центральной системе, аналогичной структуре сканирующего зеркала, состав электронного зонда в основном включает в себя систему спектроскопии, систему обнаружения и другие компоненты.

Электронный зонд JXA - 8230 состоит в основном из электронных оптических систем, рентгеновских спектрометров и систем отображения информации. Электронные зонды и сканирующие зеркала в основном имеют одинаковую конструкцию в электронно - оптических системах, и они часто объединяются в один прибор.

　　Преимущества электронного зонда JXA - 8230:

Способность к микрозональному анализу: анализ состава нескольких элементов внутри М3.

Возможность проведения анализа на месте: без извлечения объекта анализа из образца можно провести анализ крошечных участков в большом куске образца. Сочетание электронного микроскопа с электронным зондом связывает микроструктуру и элементы, наблюдаемые под микроскопом.

3, Широкий диапазон анализа: Z > 4 из них, спектр волн: Be - U, энергетический спектр: Na - U.

　　Функции и особенности электронного зонда JXA - 8230:

Электронный зонд может проводить качественный или количественный анализ химического состава крошечных участков образца. Можно проводить точечное, линейное сканирование, анализ поверхностного сканирования. Также можно полностью автоматизировать количественный анализ. Поскольку технология электронных зондов имеет преимущества быстрой и простой эксплуатации, простоты интерпретации результатов экспериментов, отсутствия повреждения образцов в процессе анализа и высокой точности измерений, она все шире используется в металлургии, геологии, электронных материалах, биологии, медицине, археологии и других областях и является важным инструментом для анализа минеральных испытаний и анализа состава проб.