Основываясь на генерировании рентгеновских лучей, принципе флуоресценции и принципе прибора с дисперсионной длиной волны XRF (WDXRF), лекторы проанализировали техническое ядро на простом языке и заложили теоретическую основу для последующих курсов.

Расскажите о функциях и точках обслуживания ключевых компонентов, таких как детекторы, спектральные кристаллы и рентгеновские трубки, и освоите методы обнаружения общих неисправностей.

В сочетании с элементами спектральных диаграмм, чтобы понять, как идентифицировать типы элементов через пики характеристик и использовать программные средства для быстрого завершения полуколичественного анализа.

В ответ на интерференцию эффекта матрицы в анализе XRF в курсе подробно описаны сценарии применения и методы работы модифицированных моделей, таких как метод эмпирических коэффициентов и метод теоретического коэффициента альфа.

От метода прессования порошка до метода плавления, лекторы подчеркивают такие ключевые факторы, как однородность образца и контроль зернистости.

Инструкция для студентов по настройке напряжения, тока, времени измерения и других параметров в соответствии с характеристиками образца и создание персонализированной библиотеки методов анализа значительно улучшила применимость прибора

Благодаря глубокой интеграции теории и практики это обучение заложило прочную основу для продвижения и применения технологии XRF.

В будущем мы будем проводить нерегулярные технические обмены, чтобы продвигать инновационное применение рентгеновской флуоресцентной спектроскопии в таких областях, как минералы, цветные металлы и т. Д., С нетерпением ждем следующего свидания!