-
Электронная почта
jisong0988@163.com
-
Телефон
13534231905
-
Адрес
Промышленный район Мерлин Дори, район Футянь, город Шэньчжэнь, провинция Гуандун
Shenzhen Tianchuangmei Technology Co., Ltd
jisong0988@163.com
13534231905
Промышленный район Мерлин Дори, район Футянь, город Шэньчжэнь, провинция Гуандун
ICP Plasma излучающий спектрометр с индуктивной связью (ICP - OES) и X - флуоресцентный спектрометр (XRF) имеют свои преимущества в области элементного анализа, но ICP - OESЧувствительность, способность к многоэлементному синхронному анализу, управление эффектом матрицы, линейный диапазон и степень автоматизацииТакие аспекты демонстрируют значительные преимущества, особенно для анализа высокоточных, следовых и сложных образцов матрицы. Ниже приводятся конкретные сравнения:
МКП-ОЭС:: Использование высокотемпературных плазменных возбуждаемых образцов, способных обеспечить обнаружение следовых элементов на уровне субppb (одна миллиардная), чувствительностьвысокийНапример, предел обнаружения никелевых элементов может достигать 4,3 мкг / л, а марганцевых элементов - 1,4 мкг / л, что подходит для мониторинга окружающей среды, анализа качества воды и других сценариев, требующих строгого содержания элементов с низким содержанием.
XRF: Хотя элементы микрограммового класса могут быть обнаружены, предел обнаружения обычно находится на уровне ppm (одна миллионная часть), а чувствительность к легким элементам, таким как натрий, магний, ниже. Преимущество заключается в быстром скрининге констант, а не в анализе следов.
МКП-ОЭСОдноразовая подача может одновременно анализировать более 70 металлов и некоторые неметаллические элементы, покрывая большинство элементов периодической таблицы. Например, в анализе геологических образцов, может быть одноразовое измерение меди, железа, цинка, хрома и других элементов, значительно повышает эффективность.
XRF:: Хотя многоэлементный анализ может быть ограничен энергией источника возбуждения и разрешением детектора, способность различать легкие элементы (атомный номер < 11) и соседние элементы (например, железо и кобальт) слаба, и параметры прибора должны быть скорректированы для различных элементов.
МКП-ОЭС:: Высокотемпературная плазма может эффективно разлагать матрицу образца, уменьшая химические помехи, особенно подходит для анализа сложных образцов (например, сплавов, сточных вод). Он калибрует коэффициент корреляции кривой R ≥ 0999 для обеспечения точности количественного анализа.
XRF:: Эффект матрицы является значительным, плотность образца, выравнивание поверхности и эффект поглощения - усиления между элементами могут влиять на результаты, которые должны быть исправлены с помощью стандартной коррекции образца или математической модели, точность количественного анализа немного ниже, чем ICP - OES.
МКП-ОЭС:: Линейный диапазон охватывает 4 - 6 порядков величин (от уровня ppb до уровня ppm), что позволяет одновременно измерять высокое и низкое содержание элементов без разбавления или обогащения образцов и упрощает рабочий процесс.
XRF:: Линейный диапазон более узкий, высокое содержание элементов легко насыщается, необходимо разделить тест или разбавить образец, увеличить время анализа.
МКП-ОЭС:: Оснащен системой автоматического ввода проб и программным обеспечением для обработки данных, поддерживает обнаружение большого потока массовых образцов, уменьшает человеческие ошибки, подходит для лабораторных крупномасштабных аналитических задач.
XRF:: Хотя операция проста (например, ручная XRF может быть быстро обнаружена на месте), количественный анализ требует регулярной калибровки и высоких требований к однородности образца, неравномерные образцы (например, частицы руды) должны быть измельчены.
МКП-ОЭС:: Применяется в таких областях, как экологический мониторинг, обнаружение пищевых продуктов, геологоразведка и т.д., особенно обнаружение следовых загрязнителей (например, тяжелых металлов) является незаменимым. Затраты на закупку оборудования выше, но долгосрочные эксплуатационные расходы (например, потребление аргона) поддаются контролю.
XRF: Для неразрушающего обнаружения, недорогих и длинных, широко используется в сортировке металлов, археологическом анализе, тестировании RoHS и других сценариях, но трудно удовлетворить потребности высокоточного анализа следов.
Последняя статья:Кратко опишите общие проблемы с тестером состава металла
Следующая статья:Принцип работы рентгеновского толщиномера