IT2800 Исходная таблица NAAN (A) Класс низкого уровня для оптимизации испытаний

С быстрым развитием микроэлектроники и улучшением уровня проектирования интеграция чипов и объем вычислительных данных значительно увеличились. Это привело к резкому увеличению энергопотребления чипа. Поэтому чипы должны быть спроектированы и протестированы с низким энергопотреблением. Некоторые электронные продукты в той же жизни, такие как устройства IOT, портативные продукты питания от батарей и т. Д., Чтобы обеспечить более длительный рабочий режим, также должны быть протестированы на низкое энергопотребление.

Особенности испытаний на низкое энергопотребление

Статический ток становится все ниже и ниже, ток покоя UA и даже ток утечки NA - класса

Сигнал сложный, динамический ток изменяется в широком диапазоне, микроампер (uA) спящий ток излучает сотни мА или даже несколько А

ток

Ширина электрического импульса узкая, обычно от нескольких сотен микросекунд до миллисекунд.

Требуются высокие скорости отбора проб и длительные непрерывные измерения

Программа испытаний с низким энергопотреблением

Традиционный вариант 1, высокопроизводительный источник питания + мультиметр

Это в основном связано с тем, что тесты с низким энергопотреблением часто имеют быстрые динамические характеристики, требуют высокой точности питания, быстрой реакции, а также медленной скорости обратного чтения самого источника питания, чтобы избежать утечки мутации тока, часто необходимо сотрудничать с цифровым мультиметром для сбора данных.

Традиционный вариант II. Анализаторы питания + высокоточные таблицы источников питания / источников

Функция цифрового мультиметра была заменена анализом и записью данных с помощью анализатора электропитания, которые были дорогостоящими и иногда требовали проведения испытаний с использованием платного программного обеспечения