Очевидно,Рентгеновская дифракция является фундаментальным и незаменимым аналитическим инструментом в области материаловедения.Имеет преимущества неразрушающей, простой подготовки образцов и т.д. Рентгеновский дифракционный прибор обычно состоит из пяти частей: рентгеновского источника света, гониометра, стенда образца, оптической системы и детектора.

Основываясь на уже существующем D2 Phaser и сочетая преимущества высокопроизводительных детекторов рассеянной решетки энергии серии LYNXEYE, Bruker смело экспериментирует с новой структурой и логикой движения на платформе настольного дифрактора, мощно запуская трансграничную настольную дифракционную систему -фазер D6А.

Основные моменты продукции:

И Дополнительный источник рентгеновского излучения

Компания D6 Phaser предлагает два альтернативных источника рентгеновского света мощностью 600 Вт / 1200 Вт, а также испытательную мощность, сопоставимую с крупными моделями посадки, для удовлетворения различных потребностей.

II. высокоточный угломер

D6 Phaser гарантирует, что погрешность измерения любого дифракционного пика не превышает ± 0,01 ° в пределах полного спектра образцов корунда (20 - 140°), что сопоставимо с погрешностью измерения больших посадочных моделей.

III. Расширение многофункциональной платформы

В то же время D6 Phaser может выполнять многофункциональные тесты, которые ранее были доступны только на больших самолетах с посадкой, таких как:

• Испытание на плёночное преломление (GID)

Тест на рефлексивность пленки (XRR) Испытание на остаточное напряжение

Тест текстуры

Тест на капиллярную проницаемость

С функциональной точки зрения, предыдущее поколение настольных дифракторов D2 PHASER из - за ограничения размера пространства может только завершить анализ и тестирование образцов порошка, блоков, обычных пленок и т. Д., Не может достичь большего расширения функций;

АD6 фазыЭто нарушает функциональные ограничения настольного дифрактора, такие как:

① Испытание плёночного преломления (GID):Использовать параллельные световые пути в сочетании со стендом для отбора образцов по оси Z, который может регулировать высоту образца;

Тесты на напряжение и текстуру:Использование точечного коксового пятна и стенда для образцов с движением в направлении Чи и Фи;

Тест на изменение температуры на месте:Использовать резервуары для образцов с переменной температурой на месте;

Капиллярное пропускание:Требуется капиллярный стенд для образцов и сочетание пропускающей оптики и т. Д. Расширение этих приложений обеспечит важное функциональное расширение в области тонкопленочных материалов, металлических материалов, лекарств, керамических материалов и т. Д. Для достижения многофункциональной платформы настольного дифрактора.

При выборе базовой конфигурации,D6 фазыТакже предлагается дополнительная применимость:

Мощность лампы:Предлагаются три варианта, в соответствии с которыми пользователи могут выбрать более подходящее соответствие;

Автоматическое устройство ввода:12 - битное устройство автоматического ввода проб D6 PHASER предоставляется пользователям на выбор, что в значительной степени экономит затраты на рабочую силу;

Выбор водяного охлаждения:В дополнение к собственному внутреннему водяному охлаждению D6 PHASER, пользователи могут выбирать между собой и так далее, чтобы лучше ориентироваться и поддерживать индивидуальные решения для различных потребностей пользователей.

Кроме того,D6 фазыЭто также связано с традиционными преимуществами Брука.

Высокоточный угломер в режиме тета / тета - сканирования, который дает вам точное угловое положение и закладывает основу для фазового профилирования вашего предмета; Также может быть оснащен полным спектральным детектором дисперсионной решетки LYNXEYE, по сравнению с традиционным детектором решетки, больше функций разрешения энергии, в значительной степени освобождая шум и фон от помех данным, улучшая отношение сигнала и шума и отношение пиковой спины, чтобы сопровождать вашу полноспектральную настройку, структурную доработку, нестандартную количественную оценку и т. Д.

D6 фазыДвумерная дифракционная реализация D6 PHASER обеспечивает два вида отражения в геометрииМетоды реализации двухмерной дифракции, методы сканирования Bragg - 2D и Phi - 1D:

Метод Bragg - 2DВместо того, чтобы перемещать образец, выбирая большую рассеянность падающего света, образец подвергается воздействию рентгеновского луча на большой площади и визуализирует дифракционные сигналы из разных зерен в пространстве дельта vs. 2Theta.

Метод Phi - 1DТребуется вращающийся стенд для проб, облучающий образец узким рентгеновским лучом, детектор, расположенный в определенном пиковом положении 2Theta, визуализирует зерна, вращая образец одновременно с непрерывными снимками детектора. Соответствующая конфигурация стенда для отбора образцов рентгеновского дифрактора показана на рисунке 1.

Рисунок 1. Стационарный стенд D6 PHASER (слева) для дифракции Bragg2D, вращающийся стенд для образцов (справа) для двумерной дифракции Bragg2D и Phi - 1D

На рисунке 2 показана двумерная дифракционная карта образцов крупнозернистого порошка, содержащая большое количество разрывных пятен. В обычных одномерных измерениях дифракции порошка дифракционные сигналы интегрируются вдоль дифракционных лучей, и пользователи не понимают, что размер частиц образца неравномерен. И теперь, благодаря быстрым двухмерным дифракционным измерениям, пользователи осознают, что количественные измеренияИзмерения XRDПрежде образец должен быть измельчен более тонко.

Рисунок 2. Интерфейс DIFFRAC.COMMANDER показывает сканирование Phi - 1D образцов сахара

Горизонтальная ось изображения соответствует вращению Phi, в то время как вертикальная ось показывает снимок детектора. Использование данныхD6 фазы600 Вт, Co мишень, K - beta фильтр, 2,5 ° коллиматор Soller, переменный расходящийся щель (постоянное отверстие, 0,25 мм), без экрана рассеяния воздуха. Непрерывное phi - сканирование с помощью детектора LYNXEYE - 2, шаг 0,9 градуса, время экспозиции 1 секунда, общее время сканирования 401 секунда, детектор достигает отверстия 2Theta 4,97 °.

Второй пример (рисунок 3) показывает приоритетную ориентацию мелких зерен. Вертикальная линия показывает более широкую модуляцию прочности, но для материала случайной ориентации прочность должна быть постоянной. Кроме того, дифракционные сигналы имеют разную ширину, что указывает на наличие микроскопических деформаций. Для этой тестовой алюминиевой фольги лучший средний сигнал может быть получен только путем тестирования образца на другую ориентацию. Соответственно, при измерении образца порошка кристалл должен быть максимально перенаправлен в процессе подготовки образца, чтобы сделать его более случайным или уплотнять порошок при меньшем контактном давлении.

Рисунок 3. Двухмерное программное обеспечение DIFFRAC.EVA показывает сканирование Phi - 1D образцов прокатных алюминиевых листов, измеренных с помощью рентгеновских лучей, характерных для Co