Разрыв пределов пробоотбора образцов

Сканируемый зондом атомно - силовой микроскоп (FM - Nanoview LS - AFM), который нарушает многие ограничения на структуре традиционного атомно - силового микроскопа и образцах, является * первым серийно коммерциализированным, способным реализовать атомно - силовой микроскоп с неподвижным образцом и движущимся сканированием зонда. Преодоление прошлых ограничений атомного силового микроскопа на размер и вес образца. В то же время, применяя сверхбольшие образцы, Flight Man также повышает масштабируемость стенда для образцов, чтобы обеспечить удобную многоинструментальную связь с образцами на месте. В соответствии с потребностями клиентов можно настроить сканирующий атомный силовой микроскоп зонда. Широко используется в исследованиях проб полупроводниковых и графеновых материалов.