Позитивный золотофазный микроскоп как ключевой инструмент в области материаловедения, его технология освещения напрямую влияет на качество изображения и эффективность анализа. В настоящее время основные технологии освещения включают освещение с открытым полем, освещение с темным полем, освещение с поляризацией и освещение с дифференциальной интерференцией (DIC), каждая из которых реализует конкретные аналитические потребности с помощью уникального дизайна светового пути.
Освещение открытого поля является основным режимом положительного микроскопа, свет сходится через конденсатор после вертикального облучения образца, отражающий свет через объектив, чтобы сформировать яркое поле зрения. Эта технология подходит для наблюдения за металлическими образцами после полировки и может четко отображать границы кристаллов, фазовые границы и другие структуры. Регулируя диафрагму с апертурой для управления углом апертуры луча, можно оптимизировать баланс разрешения и глубины.
Освещение темного поля через кольцевую диафрагму заставляет свет наклоняться к образцу, рассеивая только свет в объектив, образуя контрастное темное фоновое изображение. Эта технология имеет преимущества для обнаружения поверхностных дефектов и мелких выделений, например, в алюминиевых сплавах можно четко наблюдать примеси диаметром менее 1 мкм. В режиме темного поля необходимо закрыть диафрагму поля зрения, чтобы уменьшить помехи рассеяния света.
Поляризованное освещение состоит из материала, который анализируется с использованием характеристик двойного преломления кристалла путем вставки смещения и дефлектора. В исследованиях стальных материалов технология поляризации может различать анизотропные фазы, такие как феррит и аустенит, а измерение углового вращения может количественно рассчитать соотношение фаз.
Дифференциальное интерферометрическое освещение (DIC) делит луч на два луча поляризованного света через призму Волластона, отражаясь образцом, создавая разность фаз и формируя изображение рельефного эффекта. Технология чувствительна к внешнему виду поверхности и может распознавать изменения высоты ступеней 0,1 мкм при обнаружении полупроводниковых кристаллов.
Руководство по применению:
Фундаментальные наблюдения отдают приоритет режиму открытого поля с объективом 5X - 100X для достижения непрерывных наблюдений от макро - до микроскопических.
Обнаружение дефектов переключается в режим темного поля, чтобы повысить видимость дефектов с низким контрастом.
Кристаллический анализ включает поляризационное устройство, которое завершает фазовую идентификацию в сочетании с вращающимся несущим столом.
Форма поверхности использует технологию DIC для количественной оценки шероховатости поверхности с помощью функции трехмерной реконструкции.
При практическом использовании обратите внимание: калибровка освещения Koller обеспечивает однородность поля зрения; Выбор фильтра (например, зеленый фильтр) повышает контрастность конкретной структуры; Регулярная очистка конденсаторов и диафрагменных компонентов позволяет поддерживать производительность системы. Благодаря многорежимному сочетанию освещения ортогональный золотофазный микроскоп может удовлетворить разнообразные потребности от фундаментальных исследований до промышленного контроля качества.