Электроскоп спектрального сканирования в реальном времени - это устройство, которое интегрирует сканирующую электронную микроскопию и технологию спектрального анализа энергии, способное синхронно получать информацию о форме поверхности образца и элементном составе в режиме реального времени, с высоким разрешением, мультимодальным анализом, удобной работой и другими преимуществами, широко используется в области материаловедения, биомедицины, промышленного тестирования и других областях.
функция
• Микроскопические морфологические наблюдения : с помощью высокоэнергетического электронного луча сканирует поверхность образца, собирает вторичные электроны, электроны обратного рассеяния и другие сигналы для получения изображений с высоким разрешением и может наблюдать форму и структуру поверхности на наноуровне. А
• Элементный анализ : индуцированные характерные рентгеновские лучи определяют тип и содержание элементов в микрообластях поверхности образца с помощью анализа распределения энергии и поддерживают качественный и полуколичественный анализ. А
Синхронный анализ в реальном времени: синхронизация изображения и сбора спектра энергии, может одновременно наблюдать микроморфологию, в режиме реального времени получить распределение элементов, содержание и другую информацию, чтобы избежать громоздкого процесса традиционного оборудования « сначала визуализировать, а затем изменить состав анализа».
Визуальная визуализация: с помощью технологии псевдоцветной визуализации распределение элементов преобразуется в цветную графику, которая накладывается на SEM - морфологию и наглядно демонстрирует пространственное распределение различных элементов в образце.
Точное обнаружение: Скорость сканирования быстрая (некоторые устройства оснащены полосой пропускания сбора сигнала 10M), поддержка однопиксельного распознавания элементов, точное позиционирование микроэлементов / микроэлементов, небольшая ошибка количественного анализа и высокая степень автоматизации работы, новички также могут быстро начать работу.
Широкая применимость образцов: совместимость с различными типами металлов, керамики, аккумуляторных материалов, покрытий, мягких веществ, биологических образцов и т. Д., Часть оборудования поддерживает режим низкого вакуума, может уменьшить эффект заряда изоляционных образцов, не требует сложной обработки образцов.
сценарий применения
Материаловедение и нанотехнологии: анализ элементной сегрегации металлических сплавов, однородности состава керамических материалов, дисперсного состояния наночастиц и состава элементов, поддержка исследований и разработок новых материалов и оптимизация производительности.
Электронная и полупроводниковая промышленность: обнаружение дефектов поверхности микросхем и интегральных схем, анализ чистоты состава полупроводниковых соединительных линий, проверка примесей в упаковочных материалах.
Область аккумуляторов и новых источников энергии: наблюдать распределение элементов положительных / отрицательных материалов литиевых батарей (например, кремниевых углеродных отрицательных, богатых никелем положительных), анализировать изменения состава в интерфейсе электролита и электрода и оптимизировать производительность батареи.
Промышленный контроль качества: определение чистоты материала металлических изделий (например, кольца, легированные детали), проверка толщины покрытия и однородности состава, проверка коррозии поверхности материала, включение и другие дефекты.
Геология и минералогия: анализ микроструктуры и элементного состава горных пород и минералов, выявление микроминеральных фаз, помощь в разведке минеральных ресурсов и геологических исследованиях.
Биологическая область: наблюдение за ультрамикроструктурой клеток и поверхностной морфологией биологических материалов, анализ распределения элементов в биологических образцах.