КСВ НИМАОсновные характеристики решения для подготовки пленки:

Точное управление плотностью молекулярной аккумуляции

Точное управление толщиной покрытия

Способность производить крупномасштабные изотропные молекулярные отложения

Можно производить многокомпонентные многослойные отложения

Возможность осаждения покрытия на любой твердой основе

Микроскоп под углом Брюстера может производить предварительное осаждение пленки

Проверка, контроль качества покрытия заранее