Все больше научных публикаций доказывает,QSense^®Надежность технологии.

В основе технологии лежит кварцевый кристалл, который колеблется на определенной частоте при напряжении нагрузки. Когда масса на поверхности кристалла изменяется, частота резонанса колебаний кристалла также меняется. С помощью этого метода качество интерфейса и структурные изменения могут быть измерены на чувствительности уровня нак. Этот метод позволяет измерять в реальном времени без маркировки поверхность любого материала, который может образовывать пленку.

QSense^®Изменения массы могут быть измерены, а факторы рассеяния могут быть измерены одновременно, обеспечивая информацию о структуре и вязкоупругости пленки. Он может предоставить информацию, такую как молекулярная толщина, структура, содержание воды в адсорбционной мембране. Кроме того, можно обнаружить изменения в поверхностном адсорбционном слое до, во время и после реакции.

Металлы, полимеры, химически модифицированные поверхности, до тех пор, пока они могут быть покрыты тонкой пленкой на поверхности чипа, могут стать нашим индивидуальным покрытием чипа.