-
Электронная почта
meng.yan@eoptics.com.cn
-
Телефон
18696172880
-
Адрес
Wuhan Donghu Зона развития новых технологий Финансовый порт 4 улица 10 6
Wuhan Yiguang Technology Co., Ltd
meng.yan@eoptics.com.cn
18696172880
Wuhan Donghu Зона развития новых технологий Финансовый порт 4 улица 10 6
особенности:
Неразрушающие измерения
Без контакта или повреждения образца, готовый продукт, полуфабрикат может быть многократно повторно протестирован, чтобы избежать потери образца.
Высокая точность и широкий диапазон
Точность: обычная модель ±2 нм ~ ±5 нм;
Диапазон измерений: от 1 нм до нескольких сотен микрон, некоторые модели поддерживают многослойные мембранные измерения.
Быстро и эффективно
Однократное время измерения короткое, простая модель около 0,1 ~ 1 секунды, метод спектра около 3 ~ 5 секунд, чтобы удовлетворить производственную линию « онлайн - детектирования» потребностей.
Удобно работать
Встроенная база данных по коэффициенту преломления общих материалов не требует ручного ввода параметров; Некоторые модели поддерживают « измерение в один клик» и могут работать без профессиональных оптических знаний.
Высокая адаптивность к окружающей среде
Модель промышленного класса имеет пылезащитный, сейсмический дизайн, может стабильно работать в цехе; Модель лаборатории поддерживает термостатический контроль (±0,5 °C) для дальнейшего повышения стабильности данных.
толщиномер отражающей мембраныПримечания к использованию:
Предварительная обработка образца: обеспечение очистки поверхности образца (без пыли, загрязнения нефтью), иначе это повлияет на отраженный световой сигнал, что приведет к ошибке измерения;
Экологический контроль: лабораторные высокоточные измерения должны избегать прямого яркого света, возмущения воздушного потока, промышленные сцены должны быть удалены от источника вибрации;
Регулярная калибровка: калибровка образцов стандартной толщины пленки проводится раз в месяц для обеспечения точности прибора;
Соответствие параметров: перед измерением необходимо подтвердить скорость преломления пленки и соответствие типа фундамента параметрам прибора.
Последняя статья:Подробное описание структуры спектрального эллипсоида матрицы Мюллера
Следующая статья:Как улучшить экологическую адаптивность эллиптического поляризатора?