09,14,2026 4просмотры
Высокоскоростная визуализация
Помещение больших образцов
Автоматизированный интеллектуальный процесс формирования изображений
Многофункциональные области
Быстрый прорыв, НаноЭстер
91 параллельный электронный луч одновременно генерирует более 3 ТБ данных в час с высоким контрастным отношением сигнала и шума. Для получения изображений размером 4 нм пикселя на срезе 1 мм2 требуется менее 2 минут.
Крысиный мозговой разрез. На левом изображении изображена область площадью 165 мкм × 143 мкм с помощью MultiSEM 706, что занимает всего 1,5 секунды.
На снимке справа показано усиление 30 мкм области в срезе мозга крысы. Образец был предоставлен Чикагским университетом Б. Кастури.
После обработки и полировки ИС левый рисунок использует MultiSEM 706 для получения изображений за 1,5 секунды, покрывая шестиугольное поле зрения 132 мкм × 114 мкм. На правом рисунке показан эффект усиления 30 мкм в интегральной схеме. Образцы были предоставлены C. Pawlowicz, компанией TechInsights, Онтарио, Канада.
Изображение больших образцов, анализ высокого потока
MultiSEM позволяет визуализировать большие площади образцов. Принимая во внимание всю картину и детали структуры сверхбольшого образца, в сочетании со сбором последовательных срезов, полный клеточный, объемный и даже полный трехмерный анализ мозговой ткани с высоким разрешением.
Используя MultiSEM, мы получаем изображения с высоким разрешением 1 мм3 тканей коры головного мозга человека и проводим трехмерный анализ различных клеточных структур. Левый рисунок показывает трехмерную реконструкцию конических нейронов в плоскости ткани 2 x 3 мм2. На правом рисунке показана трехмерная реконструкция локальных объемных нейронов. Изображение было предоставлено лабораторией Лихтмана Гарвардского университета, а рендеринг был сделан Д. Бергером.
Приложения для обратной инженерии: использование MultiSEM для быстрого завершения стратифицированного общего сканирования продвинутого графического чипа с 5 - нм пиксельным размером и временем пребывания в точке 100ns, а также 3D - реконструкция данных изображений для структуры цифрового слоя для проверки дизайна макета. Одному одновременному сканированию 91 луча требуется всего 1,4 секунды, чтобы получить изображение с разрешением нанометра в шестиугольной области (длинная ось 165um).
Интеллектуальный контроль, усложняющийся для Джейн
Инновационный программный интерфейс ZEN интуитивно понятный и простой, помощник экспериментального процесса упрощает громоздкие настройки, множественные интеллектуальные вспомогательные функции уменьшают рабочую нагрузку оператора, автоматическая система регулировки оптического пути обеспечивает высокое качество изображения в течение длительного времени без вмешательства человека.
Автоматическое обнаружение срезов, экономия ручного труда
Интеллектуальное управление данными для обеспечения целостности данных
Используйте программное обеспечение ZEN для управления MultiSEM
Новый Zaiss MultiSEM 706
Большие микроизображения
以突破性的速度
Расшифровать больше тайн
