Добро пожаловать Клиент!
instrumentb2bGuangyan Technology примет участие в CIOE 2025 China International Photoelectronics Expo # Шэньчжэньский международный выставочный центр 9 / 10 - 9 / 12

光焱科技将出席CIOE 2025中国国际光电博览会|深圳国际会展中心 9/10–9/12

Время: 2025 / 9 / 10 - 9 / 12

Место проведения: Шэньчжэньский международный выставочный центр

Бутоны: 6E50, 6E51

26 - я Китайская международная фотоэлектрическая выставка (CIOE 2025)


Enlitech принимает участие в 26 - й Китайской международной фотоэлектрической выставке (CIOE 2025)

Технология Свет - Янь (Enlitech) будет10 - 12 сентября 2025 годаПрисутствие вШэньчжэньский международный выставочный центрОрганизовано26 - я Китайская международная фотоэлектрическая выставка (CIOE 2025)А.
В качестве всемирно известногоФестиваль фотоэлектрической и полупроводниковой промышленности, CIOE объединяет людей со всего мира.Фотоэлектрические элементы, полупроводниковые устройства, оптическое обнаружение, интеллектуальное зондирование и применение AIoTСоответствующие специалисты и предприятия.



Компания Enlitech показала новейшие интеллектуальные датчики и полупроводниковые оптические детекторы

В Cioe 2025Интеллектуальная сенсорная выставка (6 павильонов), Enlitech покажет передовыеРешение для оптических испытаний полупроводниковПомогает исследователям и инженерам точно проверятьФотоэлектрический датчик, датчик изображения SPAD, CMOSЭффективность.

Основные экспонаты включают:

  • СПД2200: Коммерческий уровеньSPAD Интегрированный тестер эффективности однофотонных лавинных диодов




  • APD-QEА.усовершенствованный оптический датчик квантовой эффективности


  • SG-AА.Испытатель датчиков изображения CMOS

Это оборудование помогает исследователям и промышленным инженерамВысокоскоростные чипы, интеллектуальные датчики, фотоэлектрические приложенияНедостатки производительности.



Искренне приглашаю. Стенд Enlitech 6E50 6E51

О компании Enlitech расскажет команда профессионалов.Применение оптических тестов и интеллектуальных датчиковИскренне приглашаю Вас посетитьБутаны 6E50, 6E51Общайтесь с намиБудущие тенденции полупроводниковых оптических испытанийЭй!


Последние новости