20 - я сессия Международного общества микроскопии прошла с 10 по 15 сентября этого года в BEXCO в Пусане, ЮжнаяКорея.
JEOL представляет IMC20 с полезной информацией о новых технологиях и практических технологиях, охватывающих все области, и размещает различные информационные блоки продуктов: модели JEM - ACE200F - TEM для полупроводников, стендовые семинары и удаленные презентации. Номер стенда: 1 выставочный центр, зал 1 S03 / 04, с нетерпением ждем!
Эксплуатационное оборудование
Дистанционная демонстрация JSM - IT800
JCM-7000
Gather-X JED Series DrySD™ Безоконные EDS
Выставочный семинар
Приглашенный доклад 1.
Вторник, 12 сентября, в 13:00
Путешествие Cryo-EMing в Корее
Профессор Джи-Чжун Сонг
Департамент биологических наук
Корейский передовый институт науки и технологий (KAIST), Дэджон, Корея
Приглашенный доклад 2.
Среда, 13 сентября, в 13:00
Марс - исследование наномагнитного мира
Профессор Наоя Шибата
Директор Института инженерных инноваций, Токийский университет
Удалённая демонстрация
JEM-ACE200F высокопропускной аналитический электронный микроскоп












