09,16,2026 3просмотры
Рентгеновский микроскоп VersaXRM 730
Рентгеновский микроскоп VersaXRM 615
Два новых продукта позволяют получать изображения с высоким разрешением и высокой контрастностью, а также поддерживают быстрое 3D - сканирование изображений в течение 1 минуты с быстрым расширением сканирования в сочетании с программным обеспечением для управления системой ZEN navx и расширенными функциями реконструкции на основе ИИ, интеллектуальными, простыми, высококачественными и эффективными.
Новые рентгеновские микроскопы VersaXRM 730 и VersaXRM 615 позволят исследователям и промышленным исследователям выйти на новый уровень в эпоху быстрого сканирования.
•Объективный детектор 40X - Prime без страха высокого давления
Пространственное разрешение до 450 нм,
√ 3Пространственное разрешение при полном напряжении 0kV - 160kV достигает 500 нм
Большое рабочее расстояние с высоким разрешением (RaaD) производительность:
700nm@50mm
750nm@100mm
Система VersaXRM 730 может быть оснащена объективным детектором 40X - Prime
Случай изображения
Простое в использовании программное обеспечение для управления системой ZEN NAVX
Рентгеновский микроскоп Zeise VersaXRM использует новую систему управления, ориентированную на человека, которая упрощает работу и делает трехмерную визуализацию более эффективной.
• Ориентированный на человека интерфейс и дизайн процессов, сложные операции мгновенно становятся простыми,
• Интеллектуальная система предотвращения столкновений Smartshield для сопровождения экспериментальных исследований,
Полностью автоматическая рекомендация параметров, различные типы образцов могут получить высококачественные изображения,
• Интегрированные программные функции, облегчающие сбор данных и автоматизированную трехмерную реконструкцию.
• Расширенный набор инструментов для реконструирования на основе искусственного интеллекта
Вся линейка VersaXRM оснащена высокопроизводительными рабочими станциями для обработки данных и 2 - летним усовершенствованным инструментом реконструкции DeepRecon Pro License. Искусственный интеллект плюсПоддержание, достижение дальнейшего улучшения качества и эффективности изображения.
Случай изображения
•Новый режим быстрого сбора данных FAST Mode
Новый режим сбора данных на основе расширения планшета (FPX) и ZEN navx.
Сбор проекционных данных, необходимых для трехмерной реконструкции образца в течение 1 минуты, значительно повышает эффективность изображения,
• От большого поля зрения до высокого разрешения для быстрого позиционирования и увеличения изображения.
•Старые и новые пользователи могут быть обновлены и расширены.
Стоит отметить, что в соответствии с последовательной концепцией дизайна рентгеновского микроскопа ZEISS две новые модели рентгеновского микроскопа продолжают поддерживать улучшенные и масштабируемые характеристики, чтобы максимизировать инвестиции новых и старых пользователей и гарантировать, что ваше оборудование не устареет, чтобы адаптироваться к постоянным технологическим инновациям в будущем.
Маршрут модернизации рентгеновской системы микровизуализации Цейсса
