09,16,2026 3просмотры
Фокусированный ионный пучокМатериалы для разработки основных инструментов перехода от « эмпирических драйверов» к « данным драйверам»ВМатериаловедение, наука о жизни, промышленное тестирование,ПолупроводникиАнализ отказов и другие областиОни играют незаменимую роль.，аВысококачественные характеристики, подготовка образцов и трехмерная реконструкцияпрямоЭто широкая и основная область применения.А.
Zais продолжает углублять свою стратегию локализации, начиная с китайского рынка, чтобы удовлетворить потребности в локализации научных исследований, запустил новый сфокусированный ионный лучевой сканирующий зеркало Crossbeam 330.Crossbeam 330 предназначен для основных сцен, таких как высококачественные представления и подготовка образцов.Благодаря глубокой интеграции электронных и ионных зеркал, полный охват высококачественным анализом изображения / сечения, подготовкой образцов TEM,микронанообработка、 Требования к 3D - изображениям и другим приложениям.Специально спроектированные зеркала без утечки и технология замедления в цилиндре могут быть легко адаптированы с магнитными, непроводящими и другими сложными образцами, не требуют сложной предварительной обработки и могут контролироваться в режиме реального времени в процессе обработки для достижения представления с высоким разрешением и точной обработки.
Три великихспециальностьА.
01
“Цзян" СимптомыА.Высокое качество изображений и полная совместимость образцов с классической электронной оптической системой Gemini позволяют вам конкурировать в FIBИзображения SEM
02
« Быстро» приготовитьА.Хорошая характеристика в сочетании с высокопроизводительной ионной пушкой может обеспечить быструю подготовку образцов сечения и высококачественное представление субповерхностной структуры
03
"Легко" TEM: НеобычноСвойства ионного пучка обеспечивают легкую подготовку высококачественных образцов ТЭМ; Использование недавно разработанных автоматизированных процессов и простого программного обеспечения может значительно уменьшить проблемы с подготовкой образцов TEM.
От макроскопического общего анализа до глубокого изучения микромеханизмов, передовые исследования быстро развиваются в направлении многомерности и многомерности, сложные и системные требования к представлению стали основными характеристиками научных прорывов и промышленных инноваций, а также привели к таким реальным проблемам, как фрагментация данных, громоздкая работа с несколькими устройствами и фрагментация аналитических процессов.
Кроссбейм 330 может быть легко интегрирован в межмасштабные, многомодальные комплексные решения Цейсса, уникальные характеристики различных устройств, таких как оптический микроскоп с глубокой связью, рентгеновский микроскоп и т. Д., Автоматизация от сантиметрового до нанометрового масштабаРОИНепрерывное представление и полимодальный анализ，Преодоление технических барьеров между оборудованием，Систематическое решение сложных исследовательских задач.
Бесшовная интеграция в многомасштабные исследования для систематического решения сложных исследовательских потребностей:
Рентгеновский микроскоп и сфокусированный ионно - лучевой сканирующий электроскоп (XRM - FIB) связывают процессы для достижения позиционирования, воздействия, представления и анализа загрязнителей батареи
Новое сканирующее зеркало ZEISS Crossbeam 330 с фокусированным ионным лучом благодаря превосходным возможностям получения изображений и подготовки образцов, более интеллектуальным рабочим процессам и мультимодальной интегрированной платформеНовые материалы, металлы, новые источники энергии, наука о Земле, электронные полупроводники и наука о жизниВ передовых областях предлагаются эффективные и надежные единые решения для представления и обработки, которые помогут вам достичь более высокого уровня научных прорывов и модернизации промышленности.
