Добро пожаловать Клиент!
instrumentb2bСетевой семинар - SEM / TEM Новые технологии ионного пучка проб: ионный абразивный прибор, ионный рафинатор, ионный дефлятор

По мере того, как электронная микроскопия продолжает развиваться, вопрос о том, как эффективно и точно готовить высококачественные пластины, стал важной темой в области материаловедения и нанотехнологий. В качестве широко используемого метода подготовки тонких пластин технология фокусированных ионных пучков (FIB), хотя и широко используется, может включать использование ионов высокой энергии и Ga в процессе использования, что может привести к ненужной ионной инъекции. Чтобы преодолеть это ограничение, технология широкого ионного пучка (BIB) постепенно привлекает внимание и демонстрирует свои преимущества в снижении повреждений и улучшении качества образцов.

Для лучшего понимания и применения технологии BIB мы приглашаем вас принять участие в этом симпозиуме.

Часть 1.Подробности совещания

Сроки проведения заседаний

17 октября 2025 г. (пятница) 10: 00 - 12: 00

Формы участия

Онлайновое участие

Продукция Technoorg Linda

网络研讨会|SEM/TEM离子束制样新技术:离子研磨仪,离子精修仪,离子减薄仪

Ионный измельчитель SEMPREP SMART

网络研讨会|SEM/TEM离子束制样新技术:离子研磨仪,离子精修仪,离子减薄仪

Настольный ионный усовершенствованный прибор Gentle Mill

网络研讨会|SEM/TEM离子束制样新技术:离子研磨仪,离子精修仪,离子减薄仪

Настольный ионизатор Unimill

网络研讨会|SEM/TEM离子束制样新技术:离子研磨仪,离子精修仪,离子减薄仪

Ионная пушка GIB

网络研讨会|SEM/TEM离子束制样新技术:离子研磨仪,离子精修仪,离子减薄仪

Мы с нетерпением ждем вашего участия в обсуждении передовых технологий и совместной работы по содействию инновационному развитию материаловедения! Участвуйте в вебинарах, интерактивных трансляциях, также будет доставка бутиков подарков Oh!

网络研讨会|SEM/TEM离子束制样新技术:离子研磨仪,离子精修仪,离子减薄仪

Добро пожаловать для получения дополнительной информации о продуктах и примерах применения.


Последние новости