Ящик для испытания на быстрое изменение температуры при температуре 15°C в минуту

I. Обзор продукции:

Оборудование подходит для школ, заводов, военных, научно - исследовательских подразделений, лабораторий, университетов и других подразделений, чтобы проверить различные электронные компоненты в высокотемпературной, низкотемпературной или низкотемпературной чередующейся среде различных показателей производительности, хранения и адаптации к использованию.

II. Технические параметры:

III. Структура корпуса:

lФорма корпуса красивая и щедрая, с использованием обработки и формования станков с ЧПУ, а также использование ручки без реакции, простая работа.

lВнутренний желчный пузырь изготовлен из высококачественной нержавеющей стали (SUS304) Зеркальная панель, корпус с использованием холоднокатаной стали для электростатического распыления, увеличивает внешнюю текстуру и чистоту.

lБольшие окна наблюдения прикрепляются к огням, чтобы поддерживать яркость в коробке и использовать встроенное закаленное стекло в нагревательном теле, чтобы быть ясным в любое время в камере наблюдения. Левая сторона корпуса оснащена испытательным отверстием, которое может использоваться для внешних испытательных линий питания или сигнальных линий.(Описание отверстий или отверстий должно быть дано при размещении дополнительного заказа).

lНижняя часть машины оснащена высококачественным фиксированным подвижным колесом PU.

четыреСоответствует критериям:

lGB - 2423.1-89 (IEC68 - 2 - 1) Испытание А: метод криогенных испытаний.

lGB - 2423.2-89 (IEC68 - 2 - 2) Испытание B: метод высокотемпературных испытаний.

lGJB360.8 - 87 (MIL - STD - 202F) Испытание на высокотемпературный срок службы.

lGBJ150.3 (MIL - STD - 810D) Метод высокотемпературных испытаний.

lGJB150.4 (MIL - STD - 810D) Метод испытаний при низких температурах.

lGB / T 2423.2-2008 Испытание B "Метод высокотемпературных испытаний"

lGB10586 - 89 Технические условия криогенных испытательных коробок

lGB / T10592 - 89 Технические условия высокотемпературной испытательной камеры

lGB10592 - 89 Технические условия высокотемпературной испытательной камеры

lGB11158 Технические условия высокотемпературной испытательной камеры

lGB2423.1-89 Испытание основных правил экологических испытаний электротехнических и электронных изделий A: метод криогенных испытаний

lGB2423.2-89 Испытание основных правил экологических испытаний электротехнических и электронных изделий A: метод высокотемпературных испытаний

lIEC 60068 - 2 - 1.1990 Метод испытаний криогенных испытательных коробок

lIEC60068 - 2 - 2.1974 Метод испытания высокотемпературной испытательной камеры

Ящик для испытания на быстрое изменение температуры при температуре 15°C в минуту