Устройство NS - Touch для измерения толщины маски (ручной) является отличной ручной системой измерения тонкой пленки со значительным ценовым преимуществомМожет использоваться для проверки толщины склеротической пленки очков.Возможность быстрого анализа спектральных данных отражения пленки и анализа толщины однослойной и многослойной пленки в течение нескольких секунд. Специальные ручные зонды облегчают измерение изогнутых поверхностей, таких как очки и фары.

I. СОДЕРЖАНИЕТолщина поверхности ACUITIK NS - TouchОсновные функции прибора
Измерение толщины антиотражающего покрытия (AR Coating)
- Удобность в эксплуатации: измерение дефлекторных мембран на дуговых очках и на других оптических линзах.
Измерение толщины затвердевшей пленки (Hard Coating)
- Можно измерить толщину как твердого покрытия, так и грунтового покрытия одновременно.
Измерение толщины гидрофобного слоя (Hydrophobic Layer)
- Гидрофобный слой очень тонкий, толщина всего около ста атомов, поэтому для измерения требуется ультрафиолетовое излучение с короткими длинами волн.
II. Особенности толщиномера маски для изогнутых таблиц NS - Touch (ручной)
Легкая калибровка: алгоритм AutoCal освобождает пользователей от рутинной калибровки.
Повышение точности: минимизация помех от отражения спины, обеспечение более точных и надежных результатов измерений.
3. Простая работа: благодаря алгоритмам автоматического обнаружения образцов процесс измерения становится интуитивным и простым в использовании.
Параметры серии NS - Touch
| модель | NS-TouchUV | NS-Touch | NS-Touch NIR |
| Диапазон длин волн | 190 нм - 1100 нм | 380 нм - 1050 нм | 950 нм - 1700 нм |
| Диапазон измерения толщины1
| 0,02 мкм - 40 мкм | 0,05 мкм - 80 мкм | 0,1 мкм - 250 мкм |
| Точность2
| 0,01 мкм или 0,2% | 0,01 мкм или 0,2% | 0,02 мкм или 0,4% |
| точность3
| 0,001 мкм | 0,001 мкм | 0,002 мкм |
| Стабильность4
| 0,001 мкм | 0,001 мкм | 0,002 мкм |
| Размер пятна | 100 мкм | 100 мкм | 100 мкм |
| Измерить скорость | < 1с(Единичные измерения)
| < 1с(Единичные измерения)
| < 1с(Единичные измерения)
|
| Источник света | гало - вольфрамовая лампа+дейтериевая лампа
| гало - вольфрамовая лампа | гало - вольфрамовая лампа |
| Размер образца | Диаметр от1 ммдо300 ммИли больше.
| Диаметр от1 ммдо300 ммИли больше.
| Диаметр от1 ммдо300 ммИли больше.
|
1 Зависит от конкретных материалов
2, Si / SiO2 (500 - 1000нм) Стандартный образец
Расчет 100 измерений 1 - кратного стандартного отклонения от 500 нм стандартной пластины SiO2 и усреднение 1 - кратного стандартного отклонения от 20 действительных дней измерения
Расчет среднего значения 100 измерений 500 нм стандартной пластины SiO2 и двукратное стандартное отклонение от среднего значения за 20 активных дней измерений
Пример измерения NS - Touch, измерение толщины пленки антиотражающего покрытия (AR coating) на линзе