Брук: оптимизация процессов на основе данных $r $n Современное производство преследует точное принятие решений на основе данных. Интерферометр белого света ContourX - 500 Bruke, преобразуя внешний вид поверхности в количественный поток данных, обеспечивает критический вход для тонкого управления производственным процессом и оптимизации процесса, помогая модернизировать производство на основе данных.
КонтурX-500Брук: оптимизация процессов на основе данных
В основе оптимизации процесса лежит установление причинно - следственной связи между контролируемыми параметрами ввода и измеримыми показателями качества вывода. В прошлом суждения о качестве поверхности часто оставались на уровне « чувств» или « опыта», и отсутствовали достаточно тонкие данные для поддержки принятия решений. Появление ContourX - 500 Brook позволяет « внешнему виду поверхности», важному выходу массы, быть разбитым на десятки статистически анализируемых параметров, таких как шероховатость, гофрированность, глубина конструкции, направление текстуры, тем самым открывая двери данных для оптимизации процесса.
Устройство играет роль « глаза» и « линейки» в цикле оптимизации процесса. Например, в процессе полировки традиционная оптимизация может оцениваться только по окончательной яркости. И теперь, используя ContourX - 500 Brook, можно точно измерить кривые изменения значений Sa в различных полированных давлениях, скоростях вращения, длине и шероховатости поверхности и даже проанализировать эволюцию анизотропии поверхностных текстур. Благодаря этим данным можно научно определить оптимальное технологическое окно, необходимое для достижения шероховатости цели, а не пытаться вслепую.В процессе покрытия однородность покрытия, покрытие, дефекты апельсиновой коры и т. Д. напрямую влияют на внешний вид и производительность продукта. ContourX - 500 Brook может сканировать поверхность покрытия на большой площади, визуально отображать математическое распределение с помощью трехмерной морфологической карты и количественно оценивать, вычисляя параметры (например, скорость опоры поверхности, объем пиковой долины). Сравнивая измерения при различных расстояниях распыления, давлении распыления и температуре отверждения, можно четко увидеть тенденцию влияния технологических параметров на качество покрытия, чтобы направлять настройку параметров.Для достижения оптимизации процесса, основанного на данных, необходимо систематически проводить измерения. Как правило, стандартные образцы или фактические продукты измеряются до и после изменения процесса, до и после технического обслуживания оборудования или через регулярные промежутки времени, и все соответствующие технологические условия регистрируются. Автоматизированные измерения и массовая обработка данных в ContourX - 500 Brook делают возможным такой высокочастотный стандартизированный сбор данных без чрезмерной нагрузки на производство.Ценность собранных массивных поверхностных морфологических данных должна быть извлечена путем углубленного анализа. Связывая измерения ContourX - 500 Brook с базой данных технологических параметров в производственной исполнительной системе (MES), модель прогнозирования качества поверхности может быть построена с использованием методов статистического анализа (например, корреляционного анализа, регрессионного анализа, экспериментального проектирования DOE). Эти модели могут быть использованы не только для оптимизации существующих процессов, но и для быстрой рекомендации разумных исходных технологических параметров при импорте новых продуктов и сокращения времени настройки.Таким образом, введение ContourX - 500 Brook для измерения поверхности, значение которого выходит за рамки одной задачи обнаружения. Это, по сути, создание системы цифровых двойников для предприятий по качеству поверхности. Каждое измерение вводит реальные данные в эту цифровую модель, чтобы она все точнее отражала реальные технологические процессы. Оптимизированные решения, основанные на этой модели, неизбежно будут более научными и эффективными, тем самым продвигая уровень производства к более высокому уровню « интеллектуального творения».
КонтурX-500Брук: оптимизация процессов на основе данных
