Настольный автоматический мембранный толщиномер

ДоговариваемыйОбновление на02/09

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Серия NS - 30 (настольный автоматический толщиномер мембраны) представляет собой настольную автоматическую систему измерения толщины мембраны и анализа. На основе измерения толщины пленки накладывается автоматическая платформа для измерения проб, которая автоматически измеряет заданные точки и дополнительно генерирует 2D и 3D карты распределения данных. Серия NS - 30 предназначена для измерения толщины пленки кристаллического круга или толщины пленки фотоэлектрического элемента.

Подробности о продукте

Серия NS - 30 (настольный автоматический толщиномер мембраны) представляет собой настольную автоматическую систему измерения толщины мембраны и анализа. ВыполнимыйКоэффициент преломления, коэффициент поглощения, коэффициент поглощения,На основе измерения толщины пленки накладывается автоматическая платформа для измерения проб, которая автоматически измеряет заданные точки и дополнительно генерирует 2D и 3D карты распределения данных. Серия NS - 30 предназначена для измерения толщины пленки кристаллического круга или толщины пленки фотоэлектрического элемента.

NS-30 自动 mapping 膜厚仪

I. Особенности серии NS - 30 (настольный автоматический толщиномер мембраны)

1, автоматическое измерение образца, размер платформы 100mm ~ 450 мм необязательно;

Программное обеспечение автоматически генерирует распределение точек измерения по требованию;

3, 2D и 3D картографические эффекты, содержащие информацию о толщине / преломлении / альбедо;

Измеряемое напряжение пленки и изгиб поверхности (Stress / Bow);

Параметры автоматического манометра толщины пленки NS - 30

модель	NS-30УФ	НС - 30	НС-30НИР
Диапазон длин волн	190 нм - 1100 нм	380 нм - 1050 нм	950 нм - 1700 нм
Диапазон измерения толщины1	1 нм - 40 мкм	15 нм – 80 мкм	150 нм – 250 мкм
Точность2	1 нмИли0,2%	2 нмИли0,2%	3 нмИли0,4%
точность3	0,02 нм	0,02 нм	0,1 нм
Стабильность4	0,05 нм	0,05 нм	0,12 нм
Размер пятна	1,5 мм	1,5 мм	1,5 мм
Измерить скорость	< 1с(Единичные измерения)	< 1с(Единичные измерения)	< 1с(Единичные измерения)
Источник света	гало - вольфрамовая лампа+дейтериевая лампа	гало - вольфрамовая лампа	гало - вольфрамовая лампа
Размер образца	Диаметр от1 ммдо300 ммИли больше.	Диаметр от1 ммдо300 ммИли больше.	Диаметр от1 ммдо300 ммИли больше.

1 Зависит от конкретных материалов

2 Si / SiO2 (500 ~ 1000нм) Типовой образец

3 Расчет 100 измерений стандартного отклонения в 1 раз для 500 нм стандартной пластины SiO2 и усреднение стандартного отклонения в 1 раз за 20 действительных дней измерения

Расчет 100 измерений среднего значения стандартной пластины 500 нм SiO2 и двукратное стандартное отклонение от среднего значения за 20 активных дней измерений

Похожий продукт рекомендовать