Электронный микроскоп с полевым сканированием

Скачать GeminiSEM 560

FE - SEM отвечает высоким требованиям к наноизображениям, анализу и гибкости образцов

Компания Zaiss GeminiSEM позволяет легко получать изображения с субнанометровым разрешением. Отличные методы визуализации и анализа делают FE - SEM (Электронный микроскоп с полевым сканированием(Как тигр. Мы используем инновационные электронно - оптические системы и новый дизайн склада образцов, который не только упрощает работу и обеспечивает более гибкое и разнообразное использование, но и дает вам более высокое качество изображения. Для получения субнанометровых изображений размером менее 1 кВ не требуется погруженных в воду объективов. Исследуйте три дизайна электронной оптической системы ZEISS Gemini:

лИдеальный выбор для аналитической тестовой платформы - ZEISS GeminiSEM 360

лЭффективный анализ - ZEIS GeminiSEM 460

лНовый стандарт визуализации поверхности - ZEIS GeminiSEM 560

GeminiSEM 560 (Электронный микроскоп с полевым сканированиемПолностью улучшены стандарты поверхностной чувствительности, отсутствия искажений и изображения с высоким разрешением, что позволяет легко визуализировать изображения в условиях ниже 1 кВ. Кроме того, были представлены зеркальная трубка Gemini 3 и новый электронно - оптический двигатель SmartAutopilot, который обеспечивает высокое разрешение серии при любых условиях работы.

✔Новые стандарты визуализации поверхности

✔Интеграция экспертных знаний

✔Испытайте отличную контрастность.

Легко получить изображение ниже 1 кВ

✔ Зеркальные трубки Gemini 3 визуализируются без утечки при разрешении менее 1 кВ и не требуют смещения стенда или монохроматора. Он включает в себя объективы Nano - twin и новый электронно - оптический двигатель Smart Autopilot.

✔ Изображения непроводящих веществ могут быть получены с помощью новых моделей переменного давления и систем обнаружения: в режиме VP вакуумные чувствительные образцы помещаются в резервуар для отбора проб после обмена образцами с низкой светотоксичностью, что обеспечивает быстрое получение результатов при сохранении характеристик.

✔ Использование двойного порта EDSНовый склад больших образцов легко анализирует тонкие образцы. Отличный стереоугол детектора гарантирует, что вы получите быстрое и безтеневое изображение.

Интеграция экспертных знаний

✔ Наблюдение системы значительно расширилось, что позволяет легко осуществлять навигацию по образцам.

✔ Для чрезвычайно требовательных образцов новый электронно - оптический двигатель Smart Autopilot значительно увеличивает скорость визуализации. Это экономит время и не требует много времени для фокусировки: этот двигатель может управлять электронно - оптической системой, диапазон увеличения от менее чем в 1 раз до 500 000 раз, а также может автоматически корректировать, калибровать и фокусировать на протяжении всего процесса. Также включена новая автоматическая фокусировка параллакса, и новая функция автоматического колебания обеспечивает четкое изображение за считанные секунды.

✔ Сценарий Python может использовать эти функции в автоматизированных рабочих процессах, таких как трехмерная томография STEMмочь

Испытайте отличную контрастность.

✔ Найти правильную точку в заданной рабочей предпосылке означает, что вы выбрали правильную комбинацию параметров, а фокус в достижении идеального изображения - найти комбинацию параметров. Технология Gemini без утечки и ее новые зеркала Gemini 3 предлагают идеальное сочетание параметров, которые помогут вам изучить новую информацию.

✔ Магнитное поле на образце меньше 2 мТ, что позволяет легко визуализировать профиль домена. С помощью детектора обратного рассеяния Inlens с возможностью отбора энергии можно выполнять спектроскопическую визуализацию энергии, а с помощью кольцевого детектора обратного рассеяния - электронную кольцевую спектроскопическую визуализацию.

✔ Используйте ZEN Connect для объединения всех данных.Поделитесь и сообщите о своих находках.

Изображение в условиях ниже 1 кВ - интеграция опыта

Оптическая система Gemini 3 оптимизирует разрешение при низком и очень низком напряжении и повышает футеровку, обеспечивая высокое разрешение изображения во всех рабочих условиях от 1 кВ до 30 кВ и включает в себя два взаимодействующих компонента: объектив Nano - twin и новый электронно - оптический двигатель Smart Autopilot. Кроме того, он имеет режим электронной пушки с высоким разрешением и дополнительную технологию замедления стенда для образцов (Tandem decel).

Режим разрешения - Показать больше деталей

В обоих режимах можно получить более подробную информацию о SEM - изображениях и больше сигналов обнаружения. В режиме электронной пушки с высоким разрешением цветовая аберрация электронного луча уменьшается, что приводит к меньшим пятнам пучка; В техническом режиме торможения на стенде для проб применяется понижающее напряжение, что еще больше повышает разрешение изображения до 1 кВ и эффективность обнаружения детектора обратного рассеяния.

Преимущества объектива Nano - Twin:

• Достижение субнанометрового разрешения при низком и сверхнизком напряжении для повышения эффективности обнаружения сигналов.

• По сравнению со стандартным объективом Gemini разность отражений предметов при низком напряжении уменьшилась в три раза, в результате чего магнитное поле на образце уменьшилось в три раза и составило около 1 мТ.

Оптимизация геометрической структуры и распределения электростатических и магнитных полей.

• Сигнал детектора Inlens усиливается в условиях низковольтного изображения.

• Эти характеристики обеспечивают возможность получения изображений субнанометрового уровня в условиях менее 1 кВ без погружения образца в электромагнитное поле.

Принцип работы:

• Smart Autopilot оптимизирует траекторию электронов через зеркало, обеспечивая максимально высокое разрешение при каждом напряжении ускорения.

Эта автоматическая функция обеспечивает беспрепятственное выравнивание свободного переключения во всем диапазоне увеличения (от 1 до 2 000 000 раз) и увеличивает поле зрения наблюдения в 10 раз, что позволяет визуализировать объекты размером 13 см на одном изображении.

Разрешение хранения изображений 32k×24k увязано с новым обзорным режимомСоедините, чтобы обеспечить плотность несвязанных пикселей в сверхбольшом поле зрения наблюдения.

Промышленные микроскопические решения

Типичные задания и приложения

•Анализ отказов механических, оптических или электронных компонентов

•Анализ разрывов и металлографические исследования

•Поверхности, микроструктуры и характеристики устройств

•Состав и фазовое распределение

•Определение примесей и примесей

Применение в биологических науках

Типичные задания и приложения

•Симптомы топологической структуры

•Изображение чувствительных, непроводящих, дегазированных или низкофутерованных образцов

•Изображение с высоким разрешением ультрамикроструктур, таких как клетки и ткани

•Получение изображений сверхбольших площадей, таких как непрерывные срезы или разрезы