Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
Хэфэй хэгуан электроника
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

химия17> >Продукты

Хэфэй хэгуан электроника

  • Электронная почта

    317399383@qq.com

  • Телефон

    15955179814

  • Адрес

    Хэфэй, провинция Аньхой

АСвяжитесь сейчас

прибор для измерения толщины мембраны

ДоговариваемыйОбновление на02/09
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения
Обзор
Измеритель толщины мембраны Данное оборудование использует принцип отраженной интерференции для неразрушающего измерения, измерения толщины пленки на поглощающей или прозрачной подложке и скорости преломления, в то же время обеспечивает отражательную способность образца, точность измерения до разрешения уровня Е, быстрое измерение, простая работа, дружественный интерфейс, время измерения менее 1 секунды. Может применяться для измерения толщины тонких пленок, таких как фоторезистор, полупроводниковые материалы и высокомолекулярные материалы, широко используется и высоко ценится в полупроводниковой, солнечной, жидкокристаллической и оптической промышленности, а также в научно - исследовательских институтах и университетах.
Подробности о продукте

прибор для измерения толщины мембраныТехнические характеристики измерительной системы:

Основные функции: получение значений толщины пленки и спектров, таких как R, N / K

Диапазон спектрального анализа: 380 нм - 1000 нм

Измерение размера пятна: стандартный 1,5 мм, минимальный 0,5 мм

Точность измерения повторяемости толщины мембраны: 0,02 нм (100 нм образец SiO2 на основе кремния, 100 повторных измерений)

Точность толщины мембраны: 0,2% или 2 нм для более крупных

Диапазон измерения толщины мембраны: 15 нм - 70 мкм

Требования к измерению толщины n и k значений: более 100 нм

Время измерения в одной точке: 1s

Источник света: стандартный галогенный источник света (срок службы источника света 2000 часов)

Аналитическое программное обеспечение: до сотен баз данных оптических констант материалов и поддержка пользовательских настраиваемых библиотек оптических материалов; Функции моделирования и анализа многослойной изотропной оптической пленки

прибор для измерения толщины мембраныСпецификации стенда для образцов:

Размер фундамента: поддерживает размер образца до 150 * 150 мм (может быть обновлен для настройки стенда для образцов разных размеров)

Программное обеспечение для измерения и анализа

Спектральная измерительная мощность: спектрометрия альбедо

Способность анализировать данные: способность анализировать толщину мембраны, оптическая константа (коэффициент преломления и коэффициент экстинкции)

Поддержка общих моделей оптических констант и общих моделей вибраторов (модели Коши, Лоренца, Гаусса и т.д.)

Поддержка пользовательских настроек, автономный анализ программного обеспечения для моделирования фактических измерений, поддержка операционной системы Windows 10