Комплект для измерения толщины мембраны

ДоговариваемыйОбновление на02/09

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Серия NS - OEM (набор для измерения толщины мембраны) была разработана на основе тонкопленочного толщиномера NS - 20. Его оптический зонд спроектирован более компактно и может применяться в различных средах установки. Для обеспечения точности измерений оптический зонд должен быть перпендикулярен поверхности образца, и рекомендуется использовать инструмент регулировки угла, который мы оснащаем, чтобы точно регулировать угол установки. Оптический зонд подключен к хосту через оптическое волокно, длина оптического волокна гибкая и переменная, чтобы удовлетворить потребности установки различных макетов.

Подробности о продукте

Серия NS - OEM (набор для измерения толщины мембраны) была разработана на основе тонкопленочного толщиномера NS - 20 дляСолнечный перовскит для измерения толщины многослойной мембраны,Его оптический зонд спроектирован более компактно и может применяться в различных средах установки. Для обеспечения точности измерений оптический зонд должен быть перпендикулярен поверхности образца, и рекомендуется использовать инструмент регулировки угла, который мы оснащаем, чтобы точно регулировать угол установки. Оптический зонд подключен к хосту через оптическое волокно, длина оптического волокна гибкая и переменная, чтобы удовлетворить потребности установки различных макетов.

- Диапазон длин волн: 190 - 1000 нм или 350 - 1100 нм.

Оптические зонды предназначены для интеграции в автоматизированные устройства, онлайн - системы, вакуумные камеры, камеры роста на месте и другие специальные среды для удовлетворения разнообразных потребностей применения.

Параметры

参数规格

1) в зависимости от материала проб и выбранного диапазона;

2. Выберите образец стандартной толщины диоксида кремния на кремниевой кристаллической окружности (диапазон толщины от 500 до 1000 нм);

Расчет 100 измерений 1 - кратного стандартного отклонения от 500 нм стандартной пластины SiO2 и усреднение 1 - кратного стандартного отклонения от 20 действительных дней измерения;

В зависимости от сложности формулы, стандартным случаем является стандартная формула измерения толщины диоксида кремния на кремниевой кристаллической окружности.

Похожий продукт рекомендовать