- Электронная почта
- Телефон
-
Адрес
Wuhe Avenue North Yuan Technology Park C218
Категории продукта
Шанхайская компания по приборам
прибор для измерения толщины плёнки XRF - 2020
ДоговариваемыйОбновление на06/23
- Модель
- Природа производителя
- Производители
- Категория продукта
- Место происхождения
Обзор
Электрический толщиномер $r $n Корейский пионер XRF - 2020 толщиномер $r $n Быстрый неразрушающий тест толщины покрытия $r $n через объектив CCD измерение позолоченного, никелевого, медного, хромированного, никелевого, цинкового, серебристого, оцинкованного никеля, луженого. ..$r $n Позолоченное серебро никелевое лужение толщиномер XRF - 2020
Подробности о продукте
прибор для измерения толщины плёнки XRF - 2020
Корейская серия Microp XRF - 2020
Теги: Microp XRF - 2020
货号： XRF-2020H, XRF-2020L, XRF-PCB 三款
Толщиномер XRF - 2020 тип H: высота измеренного образца не более 10 см
Толщиномер XRF - 2020 L - тип: высота измеренного образца не превышает 3 см
Толщиномер XRF - 2020Тип PCB: Специальные средства для тестирования PCB - панелей
XRF - 2020 толщиномер покрытия
Корейская серия Microp
Может использоваться для измерения толщины различных металлических покрытий деталей, PCB и металлов, разъемов, полупроводников и других продуктов.
Для получения результатов измерений требуется всего 10 - 30 секунд, небольшая измеренная площадь составляет площадь круга диаметром 0,2 мм.
Диапазон измерений: 0,02 - 35um;
Измеряется толщина различных металлических покрытий, таких как гальваническое, паровое и ионное покрытие
С помощью CCD - камеры можно наблюдать и выбирать любую крошечную площадь для измерения толщины покрытия на крошечной площади.
Южнокорейские толщиномеры серии Microp XRF - 2020
Проверка толщины покрытой серебром позолоченной никелевой пленки X - RAY
(1) Одно покрытие: Ag / xx |
|
(2) Сплавовое покрытие: Sn - Pb / xx |
|
(3) Двойное покрытие: Au / Ni / xx |
Аг |
|
Сн-Пб |
|
Ау |
Фундамент |
|
Фундамент |
|
Ни |
|
|
|
|
Фундамент |
|
|
|
|
|
(4) Сплавное покрытие: Sn - Bi / xx |
|
(5) Три покрытия: Au / Pd / Ni / xx |
|
(6) Химическое покрытие: Ni - P / xx |
СН-Би |
|
Ау |
|
Ни-П |
Фундамент |
|
Пд |
|
Фундамент |
|
|
Ни |
|
|
|
|
Фундамент |
|
(1) Одно покрытие: Ag / xx |
|
(2) Сплавовое покрытие: Sn - Pb / xx |
|
(3) Двойное покрытие: Au / Ni / xx |
Аг |
|
Сн-Пб |
|
Ау |
Фундамент |
|
Фундамент |
|
Ни |
|
|
|
|
Фундамент |
|
|
|
|
|
(4) Сплавное покрытие: Sn - Bi / xx |
|
(5) Три покрытия: Au / Pd / Ni / xx |
|
(6) Химическое покрытие: Ni - P / xx |
СН-Би |
|
Ау |
|
Ни-П |
Фундамент |
|
Пд |
|
Фундамент |
|
|
Ни |
|
|
|
|
Фундамент |
|
|
Проверка толщины покрытой серебром позолоченной никелевой пленки X - RAY
Функциональные приложения Micropмембранный толщиномер
прибор для определения толщины пленки X - RAY
Все три модели являются полностью автоматическими столпами, автоматическим лазерным фокусом.
Быстрое неразрушающее испытание толщины покрытия с помощью объектива CCD
Проверка толщины покрытия электролитическим покрытием, покрытием из металла, клеммным разъемом и другими изделиями
Измеряемые
Позолочено, серебро. Позцинкование. Никель, лужение. Хроматизация, цинкование, никель и т.д.
Может широко использоваться на предприятиях по производству гальванических покрытий и при проверке готовой продукции
Более эффективный контроль толщины и качества покрытия изделия.
прибор для измерения толщины плёнки XRF - 2020
Похожий продукт рекомендовать