Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Продукты

Shanghai Tuzhe Electronic Equipment Co., Ltd

  • Электронная почта

  • Телефон

  • Адрес

    улица Цзиньцяо, 939, 207, новый район Пудун, Шанхай

Свяжитесь сейчас

Японское поле JEOL Shotkey запускает сканирующее зеркало IT800

ДоговариваемыйОбновление на05/07
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения

Обзор

Японский электрон JEOL Shotker поле излучает сканирующее зеркало IT800 $r $n полупогруженный объектив относится к тому, что в нижней части обычного объектива есть сильная магнитная линза, образованная рассеянным магнитным полем. Полупогруженные объективы JEOL могут улучшить фокусировку электронного луча и достичь сверхвысокого разрешения. Кроме того, он может более эффективно собирать низкоэнергетические вторичные электроны, возбужденные образцами, что повышает эффективность обнаружения детекторов UID.

Подробности о продукте

Японское поле JEOL Shotkey запускает сканирующее зеркало IT800Презентация продукции:

日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800日本电子JEOL肖特基场发射扫描电镜IT800

I. СОДЕРЖАНИЕЯпонское поле JEOL Shotkey запускает сканирующее зеркало IT800Возможности получения изображений с высоким разрешением

JSM - IT800 использует погруженную электронную пушку Shotkey Plus, которая сочетает в себе низкоаберрационную конденсаторную линзу и электронную оптическую систему управления Neo Engine для достижения разрешения наноуровня. Разрешение вторичного электронного изображения может достигать 0,5 нм при ускоренном напряжении 15 кВ, сохраняя высокое разрешение 0,7 нм даже при низком напряжении 1 кВ. Эта особенность дает ему значительные преимущества при наблюдении микроструктур, таких как наноматериалы и полупроводниковые устройства, такие как четкое распределение частиц катализатора менее 10 нм.

Гибкий модульный дизайн

Разнообразный выбор объективов: Предлагается пять объективных модулей, включая универсальные гибридные линзы (HL), супергибридные линзы с высоким разрешением (SHL / SHLs) и полупогруженные объективы (i / is), специально предназначенные для полупроводников, для удовлетворения разнообразных аналитических потребностей от магнитных материалов до изоляторов.

Система масштабируемых детекторов: оснащенная новым детектором сцинтилляционного обратного рассеяния (SBED) и многофункциональным детектором обратного рассеяния (VBED), SBED все еще может захватывать четкие контрастные изображения компонентов при низком напряжении, в то время как VBED поддерживает синхронный доступ к информации о 3D - форме и составе для многомерного анализа сложных образцов.

Интеллектуальная работа и эффективный анализ

Интегрированная платформа управления: бесшовная интеграция рентгеновского спектрометра с энергетической дисперсией (EDS) через графический интерфейс SEM Center для достижения бесшовного переключения анализа компонентов в реальном времени и отображения изображений для повышения эффективности анализа.

Вспомогательные функции ИИ: внедрение фильтров LIVE - AI для оптимизации качества изображений в реальном времени, поддержки быстрой фокусировки и коррекции рассеяния; Дополнительные программы, такие как Smile Navi, обеспечивают операционную навигацию для новичков и снижают порог использования.

Автоматизированная регулировка: с автоматическим соединением осей, фокусировкой, пассивацией и другими функциями, в сочетании с пятиосным моторным приводным стендом для образцов (поддерживает вращение и наклон на 360 °), упрощает сложный рабочий процесс.

Широкая применимость и промышленная совместимость

JSM - IT800 демонстрирует zhuoyue в области нанотехнологий, полупроводников, материаловедения, биомедицины и других областях. Например, его супергибридная линза (SHL) может эффективно анализировать магнитные материалы без переключения режимов; Полупогруженные объективы (i / is) хорошо разбираются в анализе отказов поперечного сечения полупроводниковых устройств. Кроме того, устройство поддерживает изображения с высоким разрешением при потоке большого пучка (например, 100nA@5kV В сочетании с высокоскоростным анализом поверхности элемента и функциями EBSD (дифракция рассеяния электронов на спине) для удовлетворения потребностей быстрого обнаружения промышленной проверки качества.