Система анализа микро - количественных фазовых изображений

Существующие проблемы и трудности изготовления гиперлинз

Из - за наноструктуры сверхлинзы и того, как она работает на субволнах, ее оптическое измерение в процессе разработки, производства и обнаружения сталкивается с проблемами. Традиционные технологии с низким разрешением затрудняют точное измерение сложных характеристик сверхлинз. Для достижения разрешения субволн необходимо использовать специальные технологии, такие как электронная микроскопия или сканирующая зондовая микроскопия. Кроме того, допуски на производство сверхлинз также влияют на их производительность, поэтому точные характеристики имеют решающее значение для оценки их производительности.

Чувствительность гиперлинз к поляризации еще больше усложняет измерение, поэтому измерения должны проводиться для различных поляризованных состояний. Для достижения многоспектральных свойств необходимо также использовать технологию * с высоким спектральным разрешением. Кроме того, точный анализ волнового фронта имеет решающее значение для оценки способности ультралинзы формировать волновой фронт. В то же время тестирование на стабильность окружающей среды также необходимо для обеспечения того, чтобы производительность гиперлинз была последовательной.

В ответ на эти вызовы компания Phasics представила комплексное решение, способное одновременно удовлетворять потребности гиперлинз в чувствительности к поляризации, мультиспектральных характеристиках, высокоточном анализе волнового фронта и стабильности окружающей среды.

Четырехволновая интерферометрия поперечного сдвига от Phasics позволяет целенаправленно оптически отображать гиперлинзы, чтобы обеспечить соответствующее решение и удовлетворить:

Высокоточные измерения в субволновом пространственном масштабе: датчик волнового фронта Phasics не только обладает точностью измерения разницы в длине света, превосходящей 2 нм RMS, но и имеет удобную конструкцию интерфейса C - конца, которая позволяет напрямую подключаться к микроскопу для быстрой установки интерполяции и пространственного разрешения на субволновом уровне.

Поляризованная независимость: датчики волнового фронта Phasics поддерживают всесторонние измерения поляризации и могут точно анализировать оптические реакции суперповерхности в различных поляризованных состояниях, что позволяет лучше оценивать фактические характеристики устройства.

Способность к многоспектральным измерениям: ее продукция способна проводить высокоточные измерения в нескольких диапазонах длин волн, обеспечивая производительность гиперлинз в многоспектральных приложениях.

Устойчивость окружающей среды: датчики Phasics могут поддерживать точные измерения в нестабильных условиях окружающей среды, устранять помехи от воздействия окружающей среды на результаты измерений и обеспечивать надежность данных.

Благодаря методам измерения Phasics * исследователи смогли всесторонне решить различные проблемы в области измерения гиперлинз и надповерхностных технологий, способствуя широкому применению этих революционных технологий в таких областях, как визуализация, лазерные системы и оптические вычисления.

Phasics Сверхповерхностные измерения

В примере на рисунке 1 ниже измеряется простое фазовое смещение суперповерхности. Высокоточные датчики волнового фронта Phasics могут обнаруживать локальные фазовые дефекты, вызванные производственными ошибками, что может помочь в оценке и настройке производственных процессов для обеспечения качества производства сверхповерхностей.

Рисунок 1: Сверхповерхностная оптика, основанная на четырехволновом интерферометрии поперечного сдвига

Франция CNRS Crhea Labs, S. Khadir - arXiv: 2008, 11369v1

На рисунке 2 ниже показано, что для измерения гиперлинзы Pancharatnam - Berry (PB) используются два разных состояния круговой поляризации: правый и левый. Согласно конструкции, при изменении поляризованного состояния сверхлинза создает положительную или отрицательную линзу.

Рисунок 2: На левой стороне показана фазовая диаграмма кривизны волнового фронта, а справа - соответствующий профиль кривой. Промежуточная фазовая карта показывает остаточную погрешность волнового фронта после фильтрации кривизны волнового фронта.

Технология QWLSI от Phasics не подвержена поляризации, поэтому при переходе от правой круговой поляризации к левой круговой поляризации наши устройства все еще могут детально отображать волновой фронт. На рисунке 2 показаны изменения кривизны волнового фронта. Кроме того, остаточные погрешности волнового фронта могут быть выявлены путем фильтрации основной кривизны волнового фронта, которая отражает дефекты более высоких пространственных частот (см. диаграмму левой фазы в середине рисунка 2).