| Стандарты адаптации Стандартный | МЭК 60904-9:2020 | МЭК 60904-9:2020 |
| Тип источника света Тип света | ксеноновый стационарный источник света | Ксеноновая лампа |
| способ охлаждения Охлаждение | Настройка воздушного охлаждения | Принудительное воздушное охлаждение |
| Срок службы источника света Срок службы источника света | > 1000ч | > 1000ч |
| Спектральный диапазон Длина волны спектра | 300-1200 нм | 300-1200 нм |
| Класс источника света Классификация источника света | Спектральное соответствие 0.875 - 1.125 A + Неравномерность облучения - 2% А Неустойчивость облучения - 1% А + | Спектральное совпадение 0,875-1,125, класс A+ Неоднородность излучения ≤2%, класс А Нестабильность облучения ≤1%, класс A+ |
| Диапазон облучения Интенсивность излучения | 200W/㎡~1200W/㎡ | 200W/㎡~1200W/㎡ |
| Испытательная площадь Область освещения | 200*200mm 240*240mm 300*300mm 320*320mm Можно настроить другие размеры. | 200*200mm 240*240mm 300*300mm 320*320mm Другой размер может быть подгонян |
| Режим тестирования Режим испытания | Стационарный режим тестирования может быть свободно установлен от 1s до непрерывного освещения. | В режиме стабильного состояния он может быть свободно установлен от 1 с до непрерывного освещения. Кроме того |
| Многоканальное проектирование Многоканальная конструкция тестирования | Возможность одновременного тестирования 36 каналов, количество каналов можно настроить | 36 каналов могут быть проверены одновременно, и количество каналов может быть настроено |
| Методы тестирования Технология тестирования | Стандартный режим сканирования I - V, V - I, с MPPT (отслеживание точки максимальной мощности), I - t (постоянное напряжение) и другими методами тестирования, может быть переключен с помощью программного обеспечения, в то же время интегрирован метод точечного сканирования (для удовлетворения минимального поэтапного метода сканирования 0,2 s) | Он оснащен I-V, V-I сканирования, MPPT (отслеживание максимальной точки мощности), I-t (постоянное напряжение) и другими технологиями испытаний, все эти технологии могут быть переключены программным обеспечением. Он также оснащен точка за точкой сканирования (встретить самое короткое сканирование в шаг ≤0.2s |
| Испытательная батарея Измеряемый тип клетки | Поликристаллы, монокристаллы, Topcon、BC、 гетерогенные переходы, CIGS、GaAs、CdTe、 Перовскит, перовскит и т.д. | Поликристаллический, монокристаллический, TopCon, HJT, BC, CIGS, GaAs, CdTe и Perovskite |
| Дополнительный элемент Факультативное обслуживание | Интегрированная система управления температурой для тестирования температурного коэффициента Интегрированная тестовая система EL для проведения тестов IV / EL на одной и той же станции Может быть настроен 0BB испытательный, перовскитный адаптер Интегрированный IR инфракрасный тепловизор для тестирования тепловых пятен Чемоданы для перчаток (Микаэрна) | Температура камеры может быть интегрирована Для достижения измерения температуры коэффициент Система испытания EL может достичь IV и EL Испытание в одной и той же производственной секции Jigs для клеток 0BB и перовскита могут быть подгонянный. Интегрирован с инфракрасным термообразователем для реализации тестирования тепловых точек Коробка для перчаток (MIKROUNA) |